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公开(公告)号：CN103842944A
公开(公告)日：2014-06-04
申请号：CN201280047596.X
申请日：2012-09-20
Applicant: 富士胶片株式会社
CPC classification number: G06F3/044 , G06F3/0412 , G06F2203/04111 , G06F2203/04112
Abstract: 形成于透明基板20上的导电片12具备多个第1透明导电图案30及多个第2透明导电图案40。各第1透明导电图案30沿第1方向配置，各第2透明导电图案40沿与第1方向正交的第2方向配置。第1透明导电图案30具备将多个第1感知部32之间电性连接的第1连接部34。第2透明导电图案40具备多个第2感知部42及电性连接多个第2感知部42之间的第2连接部44。绝缘线70以包围虚拟图案60的方式存在，以电性分离第1感知部32m第2感知部42与虚拟图案60。在第1感知部32中形成与绝缘线与70实质为相同形状的虚拟绝缘线80。导电片12可防止由光散射所引起的图案可见。
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公开(公告)号：CN103842944B
公开(公告)日：2017-03-08
申请号：CN201280047596.X
申请日：2012-09-20
Applicant: 富士胶片株式会社
CPC classification number: G06F3/044 , G06F3/0412 , G06F2203/04111 , G06F2203/04112
Abstract: 形成于透明基板上的导电片具备多个第1透明导电图案及多个第2透明导电图案。各第1透明导电图案沿第1方向配置，各第2透明导电图案沿与第1方向正交的第2方向配置。第1透明导电图案具备将多个第1感知部之间电性连接的第1连接部。第2透明导电图案具备多个第2感知部及电性连接多个第2感知部之间的第2连接部。绝缘线以包围虚拟图案的方式存在，以电性分离第1感知部、第2感知部与虚拟图案。在第1感知部中形成与绝缘线与实质为相同形状的虚拟绝缘线。导电片可防止由光散射所引起的图案可见。
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公开(公告)号：CN102971806A
公开(公告)日：2013-03-13
申请号：CN201180032270.5
申请日：2011-06-27
Applicant: 富士胶片株式会社
CPC classification number: H01B1/00 , G06F3/044 , G06F3/045 , Y10T428/24975
Abstract: 提供一种导电层转印材料及触控式面板。导电层转印材料与被转印体的转印性及粘着性良好、且提高导电层的转印均一性。触控式面板具有使用该导电层转印材料转印而成的导电层、使零件数变少、可轻量化与薄型化。一种导电层转印材料，其依序具有基材、位于该基材上的缓冲层、含有平均短轴长度为100nm以下且平均长轴长度为2μm以上的金属纳米线的导电层。所述导电层与所述缓冲层的合计平均厚度A、与所述基材的平均厚度B满足A/B＝0.1～0.7，所述导电层的平均厚度为0.01μm～0.2μm，所述缓冲层的平均厚度为1μm～50μm。
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公开(公告)号：CN101281092A
公开(公告)日：2008-10-08
申请号：CN200810091808.X
申请日：2008-04-03
Applicant: 富士胶片株式会社
Abstract: 本发明提供一种能够准确地确定存在散射、吸收或消除偏振光的试样的相位差的方法。该方法为根据依次配置有光源、偏振器、试样、检偏器和分光器的光学系中测量到的分光光谱确定该试样的相位差的方法，包括以下过程：准备没受该试样的相位差影响的该试样的分光光谱数据；对使该偏振器的透射轴、该试样的光学轴和该检偏器的透射轴的配置为检测该试样的相位差的配置而测量的至少一个分光光谱进行测量；用上述分光光谱数据修正上述分光光谱。
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公开(公告)号：CN101281091A
公开(公告)日：2008-10-08
申请号：CN200810091804.1
申请日：2008-04-03
Applicant: 富士胶片株式会社
Abstract: 本发明提供一种能够简便并且精度良好地测量小的相位差的相位差测量装置。该相位差测量装置包括依次配置有光源、偏振器、试样台、检偏器和分光器的光学系统以及计算单元，在偏振器与检偏器之间配置有波长板，并且在测量波长区域内的2个以上的波长的每一个中，用0.5以上的整数或半整数去除该波长板的延迟值的值与该波长一致。
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