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公开(公告)号：CN102162933A
公开(公告)日：2011-08-24
申请号：CN201010288514.3
申请日：2010-09-15
Applicant: 富士施乐株式会社
CPC classification number: B41J2/451 , G02B5/32 , G02B27/42 , G03G15/04054 , G03G15/0409 , G03G15/326
Abstract: 本发明涉及聚焦元件、聚焦元件阵列、曝光装置及图像形成装置。提供了一种聚焦元件，其包括：发光元件，其产生在预定波长范围的光并发出扩散光；以及在布置在所述发光元件的光出射侧的记录层中的全息元件，通过利用从发光元件的波长范围选择的多个波长的光通过波长多路来记录所述全息元件，并且利用来自所述发光元件的扩散光照射所述全息元件，并且所述全息元件发出在预定聚焦点处会聚的衍射光。
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公开(公告)号：CN102162933B
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201010288514.3
申请日：2010-09-15
Applicant: 富士施乐株式会社
CPC classification number: B41J2/451 , G02B5/32 , G02B27/42 , G03G15/04054 , G03G15/0409 , G03G15/326
Abstract: 本发明涉及聚焦元件、聚焦元件阵列、曝光装置及图像形成装置。提供了一种聚焦元件，其包括：发光元件，其产生在预定波长范围的光并发出扩散光；以及在布置在所述发光元件的光出射侧的记录层中的全息元件，通过利用从发光元件的波长范围选择的多个波长的光通过波长多路来记录所述全息元件，并且利用来自所述发光元件的扩散光照射所述全息元件，并且所述全息元件发出在预定聚焦点处会聚的衍射光。
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公开(公告)号：CN1983404A
公开(公告)日：2007-06-20
申请号：CN200610144450.3
申请日：2006-11-08
Applicant: 富士施乐株式会社
IPC: G11B7/0065 , G11C13/04 , G03H1/04 , G03H1/16
CPC classification number: G03H1/16 , G03H1/02 , G03H2001/0204 , G11B7/0065 , G11C13/042
Abstract: 本发明提供了全息图记录方法和全息图记录装置。本发明提出了一种全息图记录方法，该全息图记录方法包括以下步骤：通过将周期性强度分布或相位分布叠加在将二进制数字数据表示为亮/暗图像的光的强度分布上，来产生信号光；对所述信号光进行傅立叶变换；将经傅立叶变换的信号光和参考光同时照射在光记录介质上；以及将所述信号光记录为全息图。
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公开(公告)号：CN101025942B
公开(公告)日：2011-03-16
申请号：CN200610144449.0
申请日：2006-11-08
Applicant: 富士施乐株式会社
IPC: G11B7/0065 , G11C13/04 , G03H1/04
CPC classification number: G11B7/0065 , G11B7/128 , G11B7/2403 , G11B7/24044 , Y10S359/90
Abstract: 本发明提供了全息图记录方法和装置、全息图重现方法及光学记录介质。将信号光记录到光学记录介质上作为全息图的全息图记录方法包括以下步骤：通过在对入射相干光进行空间调制的空间光调制器上显示将调制区域分为多个区域的图案，而关于所述相干光的光轴对称地设置产生信号光的信号光区域和产生参考光的参考光区域；通过利用所述空间光调制器对所述入射相干光进行调制，来产生信号光和参考光；将从彼此对称布置的所述信号光区域和所述参考光区域产生的所述信号光和所述参考光同时且同轴地照射到反射型光学记录介质上；以及将所述信号光记录在所述光学记录介质上作为全息图。
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公开(公告)号：CN101281760A
公开(公告)日：2008-10-08
申请号：CN200710095844.9
申请日：2007-04-05
Applicant: 富士施乐株式会社
IPC: G11B7/24 , G11B7/0065
CPC classification number: G03H1/02 , G03H1/26 , G03H2001/0264 , G03H2001/267 , G03H2240/26 , G03H2250/38 , G03H2250/43 , G03H2260/31 , G11B7/0065 , G11B7/24044 , G11B7/245 , G11B7/246 , G11B7/2467 , G11B7/25 , G11B7/251 , G11B7/2531 , G11B7/2532 , G11B7/2533 , G11B7/2542 , G11B7/259 , G11B7/2595 , G11B2007/25417
Abstract: 本发明提供了一种全息记录材料、全息记录介质和全息记录方法。所述全息记录材料用于至少通过光照射来记录信息。所述全息记录材料包含光响应性分子、液晶分子和平均粒径为所述信息的记录中使用的光的波长的十分之一以下的颗粒。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1310012C
公开(公告)日：2007-04-11
申请号：CN02131908.1
申请日：2002-09-05
Applicant: 富士施乐株式会社
CPC classification number: G01D5/34715
Abstract: 从激光源所发射出的激光照射于透射型标尺。通过透射型标尺的移动，透射光的偏振角度根据沿纵长方向所排列的1/2波长片的方位变化而变化。此一偏振角度不容易受外界光等噪声因素的影响。由于透射过检偏镜并靠光检测器所检测的偏振分量的光强度根据偏振角度而变化，所以随着透射型标尺的移动而变化，检测信号向移动量运算装置输出。如果基于此一信号来运算移动量，则可以检测准确的移动量。
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公开(公告)号：CN100395513C
公开(公告)日：2008-06-18
申请号：CN02142198.6
申请日：2002-08-30
Applicant: 富士施乐株式会社
IPC: G01B11/00
CPC classification number: G01D5/38
Abstract: 从激光源所输出的激光照射于透射型标尺，被所记录的偏振光全息图所衍射。衍射光当中仅±1级衍射光的偏振方向旋转90°。这些±1级衍射光相互干涉，在光检测器的受光表面上形成干涉条纹。±1级衍射光的干涉光透射起偏镜，透射光的一部分通过狭缝片的各狭缝，照射于光检测器，照射光的强度被检测。另一方面，偏振方向未旋转的0级衍射光、±2级衍射光等不能透射起偏镜，在靠光检测器检测之前被遮断。
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公开(公告)号：CN1435675A
公开(公告)日：2003-08-13
申请号：CN02142198.6
申请日：2002-08-30
Applicant: 富士施乐株式会社
IPC: G01B11/00
CPC classification number: G01D5/38
Abstract: 从激光源所输出的激光照射于透射型标尺，被所记录的偏振光全息图所衍射。衍射光当中仅±1级衍射光的偏振方向旋转90°。这些±1级衍射光相互干涉，在光检测器的受光表面上形成干涉条纹。±1级衍射光的干涉光透射起偏镜，透射光的一部分通过狭缝片的各狭缝，照射于光检测器，照射光的强度被检测。另一方面，偏振方向未旋转的0级衍射光、±2级衍射光等不能透射起偏镜，在靠光检测器检测之前被遮断。
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公开(公告)号：CN1428594A
公开(公告)日：2003-07-09
申请号：CN02131908.1
申请日：2002-09-05
Applicant: 富士施乐株式会社
IPC: G01B11/02
CPC classification number: G01D5/34715
Abstract: 从激光源所发射出的激光照射于透射型标尺。通过透射型标尺的移动，透射光的偏振角度根据沿纵长方向所排列的1/2波长片的方位变化而变化。此一偏振角度不容易受外界光等噪声因素的影响。由于透射过检偏镜并靠光检测器所检测的偏振分量的光强度根据偏振角度而变化，所以随着透射型标尺的移动而变化，检测信号向移动量运算装置输出。如果基于此一信号来运算移动量，则可以检测准确的移动量。
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公开(公告)号：CN102750959B
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201210217048.9
申请日：2006-11-08
Applicant: 富士施乐株式会社
IPC: G11B7/0065
CPC classification number: G03H1/16 , G03H1/02 , G03H2001/0204 , G11B7/0065 , G11C13/042
Abstract: 本发明提供了全息图记录方法和全息图记录装置。本发明提出了一种全息图记录方法，该全息图记录方法包括以下步骤：通过将周期性强度分布或相位分布叠加在将二进制数字数据表示为亮/暗图像的光的强度分布上，来产生信号光；对所述信号光进行傅立叶变换；将经傅立叶变换的信号光和参考光同时照射在光记录介质上；以及将所述信号光记录为全息图。
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