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公开(公告)号：CN101149573B
公开(公告)日：2010-12-01
申请号：CN200710096403.0
申请日：2007-04-13
Applicant: 富士施乐株式会社
Inventor： 八木茂
CPC classification number: G03G5/14704 , G03G5/08221 , G03G2215/00957
Abstract: 本发明提供一种电子照相感光体、使用该感光体的处理盒及成像装置。该电子照相感光体包含依次层叠在导电性基材上的感光层和表面层，其中所述表面层包含第13族元素和氧，并且在4000cm-1到400cm-1的范围内的红外吸收光谱中，表示除了所述第13族元素与氧之间的键之外的键的吸收峰的强度是表示所述第13族元素与氧之间的键的吸收峰的强度的0.1倍或更低。
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公开(公告)号：CN100406912C
公开(公告)日：2008-07-30
申请号：CN200510001601.5
申请日：2005-01-24
Applicant: 富士施乐株式会社
Inventor： 八木茂
CPC classification number: G01J1/429
Abstract: 紫外线辐射测量方法及紫外线测量设备。一种使用紫外光敏元件的紫外线测量方法包括：利用紫外光敏元件在一太阳高度角下测量紫外线强度；以及通过使用与太阳高度角对应的转换系数来将测量到的强度转换为特定紫外线波长范围内的积分紫外线强度或响应指数，由此来确定所述特定紫外线波长范围内的积分紫外线强度或响应指数，其中所述转换系数是至少太阳高度角的函数。一种使用具有对特定波长范围的光谱灵敏度的紫外光敏元件的紫外线测量方法包括：利用所述紫外光敏元件测量紫外线强度；以及根据任意时间点的太阳高度角信息修正测量到的紫外线强度，以预测所述时间点处的紫外线强度。
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公开(公告)号：CN101149573A
公开(公告)日：2008-03-26
申请号：CN200710096403.0
申请日：2007-04-13
Applicant: 富士施乐株式会社
Inventor： 八木茂
CPC classification number: G03G5/14704 , G03G5/08221 , G03G2215/00957
Abstract: 本发明提供一种电子照相感光体、使用该感光体的处理盒及成像装置。该电子照相感光体包含依次层叠在导电性基材上的感光层和表面层，其中所述表面层包含第13族元素和氧，并且在4000cm－1到400cm－1的范围内的红外吸收光谱中，表示除了所述第13族元素与氧之间的键之外的键的吸收峰的强度是表示所述第13族元素与氧之间的键的吸收峰的强度的0.1倍或更低。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101078893A
公开(公告)日：2007-11-28
申请号：CN200610167084.3
申请日：2006-12-14
Applicant: 富士施乐株式会社
Inventor： 八木茂
CPC classification number: G03G5/0578 , G03G5/14773
Abstract: 本发明提供了一种电子照相感光体及其制造方法、处理盒和成像装置，所述电子照相感光体包含依次层积在导电基材上的感光层和表面层，所述感光层包含有机物质，所述表面层包含第IIIA族元素和氮，所述表面层的厚度为0.01μm至小于1μm，所述表面层的表面的中心线平均粗糙度(Ra)小于或等于0.01μm。
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公开(公告)号：CN1760649A
公开(公告)日：2006-04-19
申请号：CN200410084110.7
申请日：2004-10-15
Applicant: 富士施乐株式会社
Inventor： 八木茂
IPC: G01J1/02
Abstract: 紫外线测量方法以及紫外线测量装置。使用具有特定光谱灵敏度的紫外线接收元件的紫外线测量方法包括：根据紫外线接收元件的光谱灵敏度和太阳光谱辐射谱对整个区域的估算值进行估算；根据特定作用曲线、光谱灵敏度以及太阳光谱辐射谱对特定区域的估算值进行估算；以及，通过根据所述整个区域的估算值和所述特定区域的估算值对紫外线接收元件所测量的实际测得值进行校正来确定特定紫外线信息。此外，还对根据太阳高度信息而获取的特定紫外线信息进行校正。
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公开(公告)号：CN101551604B
公开(公告)日：2012-06-20
申请号：CN200910004897.4
申请日：2009-02-04
Applicant: 富士施乐株式会社
CPC classification number: G03G5/144 , G03G5/0436 , G03G5/0525 , G03G5/0564 , G03G5/0614 , G03G5/0696 , G03G5/14704
Abstract: 本发明涉及电子照相感光体及使用该感光体的成像装置和处理盒。所述电子照相感光体包含导电性基体和依次设置于所述导电性基体上的感光层、中间层和表面层，所述中间层的厚度为2nm～70nm。所述感光层的折射率n1、所述中间层的折射率n2和所述表面层的折射率n3满足不等式n2＞n3＞n1。
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公开(公告)号：CN1690727A
公开(公告)日：2005-11-02
申请号：CN200510001601.5
申请日：2005-01-24
Applicant: 富士施乐株式会社
Inventor： 八木茂
IPC: G01T1/16
CPC classification number: G01J1/429
Abstract: 紫外线辐射测量方法及紫外线测量设备。一种使用紫外光敏元件的紫外线测量方法包括：利用紫外光敏元件在一太阳高度角下测量紫外线强度；以及通过使用与太阳高度角对应的转换系数来将测量到的强度转换为特定紫外线波长范围内的积分紫外线强度或响应指数，由此来确定所述特定紫外线波长范围内的积分紫外线强度或响应指数，其中所述转换系数是至少太阳高度角的函数。一种使用具有对特定波长范围的光谱灵敏度的紫外光敏元件的紫外线测量方法包括：利用所述紫外光敏元件测量紫外线强度；以及根据任意时间点的太阳高度角信息修正测量到的紫外线强度，以预测所述时间点处的紫外线强度。
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公开(公告)号：CN101520616B
公开(公告)日：2011-12-07
申请号：CN200810184687.3
申请日：2008-12-15
Applicant: 富士施乐株式会社
CPC classification number: G03G5/047 , G03G5/08285 , G03G5/142 , G03G5/144 , G03G5/147
Abstract: 本发明提供了一种电子照相感光体，所述感光体至少具有感光层和设置在所述感光层的表面的表面层。所述表面层含有设置在所述感光层侧并且折射率为n1的第一层和设置在所述第一层的与所述感光层相反的一侧并且折射率为n2的第二层。所述感光层的折射率(n0)、所述第一层的折射率(n1)、所述第二层的折射率(n2)、所述第一层的膜厚(d1，单位为nm)、0以上的一个整数(a)、在形成静电潜像时照射所述感光体表面的光的波长(λ，单位为nm)满足特定关系。
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