公开(公告)号：CN1940530B

公开(公告)日：2010-09-15

申请号：CN200610075684.7

申请日：2006-04-18

Applicant: 富士施乐株式会社

Inventor： 纳浩史 ,  三瓶浩一

IPC: G01N21/27 ,  G01J3/46

CPC classification number: G01N21/255 ,  G01N21/474 ,  G01N2021/4735 ,  G01N2021/4757 ,  G01N2021/4778 ,  G01N2021/8663 ,  G01N2201/0642

Abstract: 本发明公开一种光学测定装置，其以非接触状态测定物体的光学特性。光学测定装置包括：光源，其对物体表面进行照射；受光器，其接收从物体表面反射的光束；以及光调整部件，其调整照射到物体表面上的照射光束和从物体表面反射的反射光束。其中，光调整部件包括第一光调整部件和第二光调整部件，第一光调整部件确定对于物体表面的照射区和反射区中的至少一个，第二光调整部件在物体表面上确定这样的区域：即，对由物体表面反射并且入射到受光器上的反射光束进行测定的区域。第二光调整部件由薄平板状部件形成，薄平板状部件与来自于光源的照射光束的光轴平行地设置，并且，第二光调整部件被布置在与第一光调整部件的开口部相对应的位置。

公开(公告)号：CN1940530A

公开(公告)日：2007-04-04

申请号：CN200610075684.7

申请日：2006-04-18

Applicant: 富士施乐株式会社

Inventor： 纳浩史 ,  三瓶浩一

IPC: G01N21/27 ,  G01J3/46

CPC classification number: G01N21/255 ,  G01N21/474 ,  G01N2021/4735 ,  G01N2021/4757 ,  G01N2021/4778 ,  G01N2021/8663 ,  G01N2201/0642

Abstract: 本发明公开一种光学测定装置，其以非接触状态测定物体的光学特性。所述光学测定装置包括：光源，其对物体表面进行照射；受光器，其接收从所述物体表面反射的光束；以及光调整部件，其调整照射到所述物体表面上的照射光束和从所述物体表面反射的反射光束。其中，所述光调整部件包括第一光调整部件和第二光调整部件，所述第一光调整部件确定对于所述物体表面的照射区和反射区中的至少一个，所述第二光调整部件在所述物体表面上确定这样的区域：即，对由所述物体表面反射并且入射到所述受光器上的反射光束进行测定的区域。