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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116908568A
公开(公告)日：2023-10-20
申请号：CN202310599471.8
申请日：2023-05-25
Applicant: 宜昌测试技术研究所
Abstract: 一种国产化低压差电压调整器自动测试方法，为低压差电压调整器提供所需的电源输入、输出负载以及外部控制信号，使得低压差电压调整器处于正常工作状态；调整电源输入和输出负载的大小并切换不同的外部控制信号，以此实现测试项目的切换，从而在不同测试项目下完成低压差电压调整器的功能和性能测试，其中，测试项目包括输入电压测试、输出电压测试、输入输出压差测试、电压线性调整率测试、负载调整率测试以及纹波抑制比测试；由此可见，本发明可以对低压差电压调整器及由其组成的应用电路板卡的功能、性能及适用性进行自动测试，提高工作效率，提升国产化低压差电压调整器实际应用状态的参数测试准确度。
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公开(公告)号：CN117929870A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202311647562.0
申请日：2023-12-04
Applicant: 宜昌测试技术研究所
Abstract: 本发明涉及电子元器件测试技术领域，本发明提供了一种EMI滤波器自动测试装置及方法，能够实现EMI滤波器及安装到电路板卡的EMI滤波器的多参数自动化测试。本发明装置的验证母板主要包括电气接口、通信接口、线性阻抗稳定网络、切换模块、电压表、电流表、输出负载和匹配电路等模块。本发明为EMI滤波器提供所需的电源输入，输出负载和外部控制信号，构建典型应用环境，实现EMI滤波器的正常工作。通过调整输入电源值，输出负载和控制信号，实现测试项目的切换。通过测试接口实现EMI滤波器的功能和性能测试，测试指标包括额定电流、额定电压、功耗和共模差模衰减等。
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公开(公告)号：CN117761489A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202311689576.9
申请日：2023-12-11
Applicant: 宜昌测试技术研究所
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开了国产化NPN双极性晶体管自动测试方法及其测试装置，具体分为直流参数测试电路和动态性能测试电路；直流参数指标测试电路用于测试基极‑发射极饱和电压VBE、集电极‑发射极饱和电压VCE、直流放大倍数hFE晶体管打开状态下直流特性参数；动态性能测试电路包括围绕被测晶体管搭建的5类典型应用电路，用于放大电路应用频率特性验证、开关电路应用开启时间验证、开关电路应用关断时间验证等动态性能参数；外部仪器仪表提供测试激励信号以及测试波形和数据的采集，验证母板负责把激励信号接入验证子板测试电路，整个测试流程由上位机统一控制；本发明能实现晶体管及安装到电路板卡的晶体管的多参数自动化测试，提高工作效率。
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公开(公告)号：CN117761488A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202311689571.6
申请日：2023-12-11
Applicant: 宜昌测试技术研究所
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开了N沟道增强型功率场效应晶体管自动测试方法及测试装置，包括直流参数测试电路和动态性能测试电路两部分；动态性能测试电路为围绕被测晶体管搭建的5类典型应用电路，用于放大电路应用频率特性验证、开关电路应用开启时间验证、开关电路应用关断时间验证动态性能参数；直流参数测试电路用于栅极‑源极阈值电压VGS、漏极‑源极导通电阻RDS、漏极‑源极漏电流IDSS以及跨导gfs晶体管打开状态下直流特性参数；外部仪器仪表提供测试激励信号以及测试波形和数据的采集，整个测试流程由上位机统一控制；本发明能够实现场效应管及安装到电路板卡的场效应管的多参数自动化测试，提高工作效率。
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