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公开(公告)号:CN117713835B
公开(公告)日:2024-04-26
申请号:CN202410165401.6
申请日:2024-02-05
Applicant: 安徽大学
IPC: H03M1/46 , H04N25/772 , H03M1/56
Abstract: 本发明属于集成电路领域,具体涉及一种两步式列级低噪声CIS的模数转换器及CIS芯片。该电路中包括:SAR‑ADC单元、SS‑ADC单元、自适应采样控制单元和数据处理单元。其中,SAR‑ADC单元用于粗量化出Vin的高N位。SS‑ADC单元采用相关多重采样技术细量化出Vin的低M位。自适应采样控制单元包括一个选通电路和一个锁存器。锁存器锁存粗量化结果的最高位,将其作为环境光检测结果,并控制选通电路选通斜坡发生器传输到电路中的斜坡信号数量,进而调整SS‑ADC单元的重复采样次数。本发明克服了现有DCMS‑ADC电路需要多个斜坡发生器以及与环境光检测相关的逻辑电路,进而导致电路的集成度降低、功耗增加的问题。
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公开(公告)号:CN117375617A
公开(公告)日:2024-01-09
申请号:CN202311426060.5
申请日:2023-10-30
Applicant: 安徽大学
Abstract: 本发明涉及模数转换器技术领域,更具体的,涉及一种用于CMOS图像传感器的两步式列级模数转换器。本发明的两步式列级模数转换器包括:公共开关模块、斜坡发生器、N个相同结构的列级电路单元。本发明将快闪ADC和单斜ADC进行电路结构和功能上的融合,一方面基于快闪ADC功能状态对信号电压Vsig进行粗量化并存储在存储电容中、将高2位数字码转换结果存入锁存器,另一方面,基于单斜ADC功能状态对信号电压Vsig进行细量化得到低10位数字码并存入静态存储器,从而完成对12bit的整个转换。本发明的转换器可以缩短量化时间,并提高转换速度,解决了现有传统单斜ADC转换速度低、量化时间长、转换周期长的问题。
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公开(公告)号:CN117714907B
公开(公告)日:2024-04-19
申请号:CN202410170097.4
申请日:2024-02-06
Applicant: 安徽大学
IPC: H04N25/772 , H04N25/778
Abstract: 本发明涉及滤波器设计技术领域,具体涉及用在CMOS图像传感器的FIR滤波器以及ADC模块。本发明提供了一种用在CMOS图像传感器的FIR滤波器,包括:1个全局计数器、N列列级电路。本发明公开的FIR滤波器通过优化电路结构实现N列列级电路共享使用全局计数器,大大减少了晶体管数量与版图面积。经过实验对比,本发明的用在CMOS图像传感器的FIR滤波器相较于现有传统FIR滤波器,晶体管数量降幅约30%。本发明解决了现有CMOS图像传感器使用的传统FIR滤波器面积偏大的问题。
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公开(公告)号:CN117714907A
公开(公告)日:2024-03-15
申请号:CN202410170097.4
申请日:2024-02-06
Applicant: 安徽大学
IPC: H04N25/772 , H04N25/778
Abstract: 本发明涉及滤波器设计技术领域,具体涉及用在CMOS图像传感器的FIR滤波器以及ADC模块。本发明提供了一种用在CMOS图像传感器的FIR滤波器,包括:1个全局计数器、N列列级电路。本发明公开的FIR滤波器通过优化电路结构实现N列列级电路共享使用全局计数器,大大减少了晶体管数量与版图面积。经过实验对比,本发明的用在CMOS图像传感器的FIR滤波器相较于现有传统FIR滤波器,晶体管数量降幅约30%。本发明解决了现有CMOS图像传感器使用的传统FIR滤波器面积偏大的问题。
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公开(公告)号:CN117713835A
公开(公告)日:2024-03-15
申请号:CN202410165401.6
申请日:2024-02-05
Applicant: 安徽大学
IPC: H03M1/46 , H04N25/772 , H03M1/56
Abstract: 本发明属于集成电路领域,具体涉及一种两步式列级低噪声CIS的模数转换器及CIS芯片。该电路中包括:SAR‑ADC单元、SS‑ADC单元、自适应采样控制单元和数据处理单元。其中,SAR‑ADC单元用于粗量化出Vin的高N位。SS‑ADC单元采用相关多重采样技术细量化出Vin的低M位。自适应采样控制单元包括一个选通电路和一个锁存器。锁存器锁存粗量化结果的最高位,将其作为环境光检测结果,并控制选通电路选通斜坡发生器传输到电路中的斜坡信号数量,进而调整SS‑ADC单元的重复采样次数。本发明克服了现有DCMS‑ADC电路需要多个斜坡发生器以及与环境光检测相关的逻辑电路,进而导致电路的集成度降低、功耗增加的问题。
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