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公开(公告)号:CN119438730A
公开(公告)日:2025-02-14
申请号:CN202411634138.7
申请日:2024-11-15
Applicant: 安徽大学
IPC: G01R29/12
Abstract: 本申请公开一种基于轨道角动量光的弱电场测量方法,涉及电场测量领域。在外腔半导体激光器发射780nm激光束,将激光束经过第一半波片和四分之一玻片后入射至由第一偏振分束器作为入射端的萨格纳克环路干涉仪,并从萨格纳克环路中插入螺旋相位板为激光束引入轨道角动量;从第一偏振分束器出射激光平行入射电光调制器,经过光电调节器输出的光束分别入射至第二半波片和第二偏振分束器进行旋转偏振和水平偏振;在第二偏振分束器的输出光路上设置CCD采集光斑信号,并将光斑信号接入电脑进行图像处理,计算出电场强度。此方案能够准确地测量电场强度,不会对被测电场产生任何干扰,适用于对敏感样品的测量,可以用于弱电场精密测量。