一种深空极端环境下的光学图像质量提升方法

    公开(公告)号:CN118229559A

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202410521812.4

    申请日:2024-04-28

    Abstract: 本发明公开了一种深空极端环境下的光学图像质量提升方法。本发明包括以下步骤:首先,根据常温环境下光学系统的物理参数,构建深空极端环境下光学系统的退化模型,利用深空极端环境下光学系统的退化模型获取不同环境温度下光学系统的物理参数;接着利用光线追迹的方法计算获得不同环境温度下的退化点扩散函数;然后,利用不同环境温度下的退化点扩散函数构建获得图像训练集,再利用图像训练集对图像质量提升网络进行训练后,获得训练好的图像质量提升网络;最后,将当前光学系统在深空极端环境下采集的光学图像输入到训练好的图像质量提升网络中,获得对应的像质提升图像。本发明能够高效地矫正由温度带来的图像退化,实现光学图像的像质提升。

    一种微结构荧光探针的制备方法及其应用

    公开(公告)号:CN117929333A

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202311733758.1

    申请日:2023-12-15

    Abstract: 本发明公开了一种微结构荧光探针的制备方法及其应用,特点是首先制取所需的载玻片衬底,在载玻片衬底的两侧分别黏贴一层胶带形成挡片,再取荧光材料溶于对应的有机溶剂中,并将溶有荧光材料的有机溶剂和光刻胶按设定比例进行混合后通过超声处理得到混合光刻胶;将混合光刻胶涂覆在载玻片衬底上的两个挡片之间,接着盖上盖玻片形成光刻胶层,随后利用光刻加工的方法得到光刻样品,并经过显影及清洗处理最终得到微结构荧光探针;优点是利用光刻加工方法加工成型所需的微结构荧光探针,加工速度快、精度高,制备过程简单,制备出的微结构稳定性好;制备出的微结构荧光探针能够有效应用于微纳领域的定点监测。

    一种多光谱探测光路
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117109738A

    公开(公告)日:2023-11-24

    申请号:CN202310953537.9

    申请日:2023-08-01

    Abstract: 本发明公开了一种多光谱探测光路,特点是包括准直组、至少两个分光滤光模组和反射滤光模组,准直组、分光滤光模组和反射滤光模组沿光路依次连接,准直组用于将来自共聚焦显微镜的光束准直为初始平行光束,分光滤光模组用于得到中间反射光和透射光,并筛选中间反射光中波长为预设的中间选定值的光线,反射滤光模组用于反射最后一组分光滤光模组的透射光得到最终反射光,并筛选最终反射光中波长为预设的最终选定值的光线;优点是通过分光滤光模组和反射滤光模组将各个待测波段的光逐段分开并筛选,最后采用光电倍增管探测信号,能够对与各个选定值对应的至少三个所需波长的光线进行探测;各个光学元件分布均匀,位置合理。

    一种非油浸大数值孔径显微物镜
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116149040A

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN202211688304.2

    申请日:2022-12-28

    Abstract: 本发明公开了一种非油浸大数值孔径显微物镜,由第一透镜组S1、第二透镜组S2、第三透镜组S3和第四透镜组S4组成,四组透镜组的总长度Lob≤50mm,显微物镜的焦距EFLob,第一透镜组S1的焦距EFLS1,第二透镜组S2的焦距EFLS2,第三透镜组S3的焦距EFLS3,第四透镜组S4的焦距EFLS4,满足:‑3.40≤EFLS1/EFLob≤‑3.90,5.0≤EFLS2/EFLob≤9.0,8.0≤EFLS3/EFLob≤21.0,1.30≤EFLS4/EFLob≤1.75,HI/EFLob≤0.139,HI为被观察物的高度,第二透镜组S2可沿光轴移动,优点是在非浸油的情况下,物镜的数值孔径可以实现≥0.95,通过调整物镜镜片与镜片间的距离,可以矫正由盖玻片加工误差引起的成像模糊问题,补偿由盖玻片厚度引起的差异,在不使用DOE等特殊光学材料的情况下,具有良好的矫正色差的效果。

    一种用于车载激光雷达视窗的黑色光学滤波器

    公开(公告)号:CN114859454B

    公开(公告)日:2022-10-18

    申请号:CN202210785893.X

    申请日:2022-07-06

    Abstract: 本发明公开了一种用于车载激光雷达视窗的黑色光学滤波器,包括光学基板,光学基板的两个表面的至少一个表面上设置有黑色光学滤光膜,黑色光学滤光膜由高折射率层与低折射率层间隔设置组成,高折射率层由氢化硅构成,特点是氢化硅在500nm处的消光系数为0.95~1.62,在600nm处的消光系数为0.57~0.98,在700nm处的消光系数为0.3~0.51,优点是采用吸收率上稍有提高的氢化硅作为高折射率材料,从而设计和制备出膜层数更少和更薄,反射率更低,应力更小,性能更可靠的黑色光学滤光膜黑色光学滤光膜的膜层数减少到22层以内,厚度降低到1000nm以内,制作成本下降至常规黑色滤光膜的50%。

    一种用于车载激光雷达视窗的黑色光学滤波器

    公开(公告)号:CN114859454A

    公开(公告)日:2022-08-05

    申请号:CN202210785893.X

    申请日:2022-07-06

    Abstract: 本发明公开了一种用于车载激光雷达视窗的黑色光学滤波器,包括光学基板,光学基板的两个表面的至少一个表面上设置有黑色光学滤光膜,黑色光学滤光膜由高折射率层与低折射率层间隔设置组成,高折射率层由氢化硅构成,特点是氢化硅在500nm处的消光系数为0.95~1.62,在600nm处的消光系数为0.57~0.98,在700nm处的消光系数为0.3~0.51,优点是采用吸收率上稍有提高的氢化硅作为高折射率材料,从而设计和制备出膜层数更少和更薄,反射率更低,应力更小,性能更可靠的黑色光学滤光膜黑色光学滤光膜的膜层数减少到22层以内,厚度降低到1000nm以内,制作成本下降至常规黑色滤光膜的50%。

    一种光学元器件相位差的检测方法及简易检测装置

    公开(公告)号:CN119354505B

    公开(公告)日:2025-04-08

    申请号:CN202411911813.6

    申请日:2024-12-24

    Abstract: 本发明公开了一种光学元器件相位差的检测方法及简易检测装置,采用激光光源、起偏器、检偏器和光功率检测器的组合方案,用于替代偏振测量仪的组件,采用特定的拟合方式,同样能够实现待检测光学元器件的相位差检测,同时通过将放置待检测光学元器件的第二调整架设置成能够绕垂直于水平面的中心轴线转动,并将放置检偏器的第三调整架和光功率检测器固定设置在能够绕第二调整架的中心轴线转动的转臂上,能够在一台设备上同时实现透射与反射相位差的检测需求,且全套设备总计不到1万元人民币,大大降低了设备成本,并且与现有的检测设备的精度基本相同,完全可以满足相位差检测的需要。

    一种多焦点扫描荧光差分显微成像系统及成像方法

    公开(公告)号:CN118777277A

    公开(公告)日:2024-10-15

    申请号:CN202410857892.0

    申请日:2024-06-28

    Abstract: 本发明公开了一种多焦点扫描荧光差分显微成像系统及成像方法,包括:用于生成圆偏振光的激光调制模块,用于将圆偏振光变成平行光束阵列的多焦点模块,用于产生实心光束阵列或空心光束阵列的空间光调制器,用于激发样品荧光信号的扫描模块,用于对荧光信号成像的成像模块和用于控制空间光调制器及扫描模块并进行数据处理和图像显示的控制模块,还公开了使用上述成像系统的成像方法;优点在于改进了传统荧光差分显微镜的单点扫描成像模式,极大的提高了荧光差分显微成像的速度,对准精度更高,可以灵活控制产生的空心光束阵列数,理论上如果采用N×N的点阵扫描样本,最终系统成像速度是传统荧光差分显微镜的N²倍。

    一种可变倍率双远心光刻镜头

    公开(公告)号:CN118426152A

    公开(公告)日:2024-08-02

    申请号:CN202410897649.1

    申请日:2024-07-05

    Abstract: 本发明一种可变倍率双远心光刻镜头,从物侧到像侧依次排列有:光焦度为正的前镜组,光焦度为正的后镜组,前镜组从物侧到像侧由依次排列的第一透镜、第二透镜、第三透镜、第四透镜和第五透镜组成,后镜组包括可移动透镜,优点在于采用双远心光学系统,通过透镜面型和光焦度的合理搭配,控制镜头内的光线走势,减小像差,实现高分辨率(>0.35@75lp/mm)、低畸变(<0.01%)、宽焦深(>480um)、小远心度(≤0.07°)的效果,满足使用需求,通过可移动透镜的前后移动,实现放大倍率的微调(2.99~3.01),提高投影定位的一致性和准确性。

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