一种基于扫频阵列涡流的焊缝缺陷识别方法

    公开(公告)号:CN120009389A

    公开(公告)日:2025-05-16

    申请号:CN202510487874.2

    申请日:2025-04-18

    Abstract: 本发明公开了一种基于扫频阵列涡流的焊缝缺陷识别方法,涉及无损检测技术领域,包括以下几个步骤:步骤A:采用扫频信号作为阵列涡流激励线圈的输入信号激发产生多频涡流场;步骤B:采集输出响应信号全波形数据作为缺陷识别的原始数据;步骤C:采用小波变换对输出响应信号全波形数据进行特征提取形成离散小波变换系数图谱;步骤D:采用支持向量机对缺陷信号系数图谱和焊缝余高信号系数图谱的特征向量进行训练和分类;步骤E:通过缺陷与焊缝余高对不同频率涡流场的输出响应信号差异,实现焊缝缺陷的识别。与现有技术相比,本发明解决了现有无损焊缝缺陷识别检测误检或漏检过高的问题。

    一种相控阵探头参数优化方法、系统、设备及介质

    公开(公告)号:CN117744358A

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202311745489.0

    申请日:2023-12-19

    Abstract: 本发明公开了一种相控阵探头参数优化方法、系统、设备及介质,涉及特种设备检测领域,所述方法包括:确定压力管道信息;采用超声仿真软件对不同组相控阵探头参数下的压力管道进行仿真,得到不同相控阵探头参数下的仿真效果图;每组相控阵探头参数均包括:相控阵探头的阵元个数、阵元激发孔径和阵元激发频率;根据仿真效果图和压力管道信息确定相控阵探头参数的初步选取范围;从初步选取范围中确定多组相控阵探头参数的取值;采用模糊综合评价法从多组相控阵探头参数的取值中确定一组相控阵探头参数的最优取值;最优取值为评价因素集得分最高的一组相控阵探头参数的取值。本发明能快速准确地确定相控阵探头参数。

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