公开(公告)号：CN101441174A

公开(公告)日：2009-05-27

申请号：CN200810163500.1

申请日：2008-12-17

Applicant: 宁波大学

Inventor： 周骏 ,  马佑桥 ,  丁海芳 ,  马伟涛 ,  冯亚萍 ,  刘晓

IPC: G01N21/45 ,  G01N25/16

Abstract: 本发明公开一种测量介质热光系数和热膨胀系数的装置及方法，包括底座、光源组件和条纹观测组件，底座上设置有支架、由金属材料制成的中空样品台、加热装置和温度测量装置，光源组件和条纹观测组件活动连接在支架上，样品台上置放有试样，加热装置包括电源、恒温调节控制器和电热器件，电热器件置放在样品台内，温度测量装置分别与样品台和恒温调节控制器连接，通过旋转第一、第二螺旋设定所需的角度，移动光源组件可使光源发射的光照射到介质膜上，移动条纹观测组件可观测到整个干涉条纹，利用加热器件对试样加热，观测不同温度下固定位置上移过的干涉条纹数目，由此测得介质的热光系数和热膨胀系数；此外，装置结构简单、测量精度高。

公开(公告)号：CN101441174B

公开(公告)日：2010-08-25

申请号：CN200810163500.1

申请日：2008-12-17

Applicant: 宁波大学

Inventor： 周骏 ,  马佑桥 ,  丁海芳 ,  马伟涛 ,  冯亚萍 ,  刘晓

IPC: G01N21/45 ,  G01N25/16

Abstract: 本发明公开一种测量介质热光系数和热膨胀系数的装置及方法，包括底座、光源组件和条纹观测组件，底座上设置有支架、由金属材料制成的中空样品台、加热装置和温度测量装置，光源组件和条纹观测组件活动连接在支架上，样品台上置放有试样，加热装置包括电源、恒温调节控制器和电热器件，电热器件置放在样品台内，温度测量装置分别与样品台和恒温调节控制器连接，通过旋转第一、第二螺旋设定所需的角度，移动光源组件可使光源发射的光照射到介质膜上，移动条纹观测组件可观测到整个干涉条纹，利用加热器件对试样加热，观测不同温度下固定位置上移过的干涉条纹数目，由此测得介质的热光系数和热膨胀系数；此外，装置结构简单、测量精度高。