公开(公告)号：CN115239712A

公开(公告)日：2022-10-25

申请号：CN202211152005.7

申请日：2022-09-21

Applicant: 季华实验室

Inventor： 王功伟 ,  陈建春 ,  胡琅 ,  尤晶

IPC: G06T7/00 ,  G06N3/04 ,  G06V10/764 ,  G06V10/774 ,  G06V10/82

Abstract: 本申请属于图像识别技术领域，公开了一种电路板表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，获取待检测的电路板图像；把所述电路板图像输入预先训练好的CNN‑Transformer融合模型，得到所述CNN‑Transformer融合模型输出的缺陷识别结果；由于CNN‑Transformer融合模型兼顾了模型性能和推理速度，且不增加额外的时间复杂度和空间复杂度，从而识别结果准确率较高且检测效率较高。

公开(公告)号：CN115239712B

公开(公告)日：2023-01-31

申请号：CN202211152005.7

申请日：2022-09-21

Applicant: 季华实验室

Inventor： 王功伟 ,  陈建春 ,  胡琅 ,  尤晶

IPC: G06T7/00 ,  G06N3/04 ,  G06V10/764 ,  G06V10/774 ,  G06V10/82

Abstract: 本申请属于图像识别技术领域，公开了一种电路板表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，获取待检测的电路板图像；把所述电路板图像输入预先训练好的CNN‑Transformer融合模型，得到所述CNN‑Transformer融合模型输出的缺陷识别结果；由于CNN‑Transformer融合模型兼顾了模型性能和推理速度，且不增加额外的时间复杂度和空间复杂度，从而识别结果准确率较高且检测效率较高。