公开(公告)号：CN119619194A

公开(公告)日：2025-03-14

申请号：CN202411811524.9

申请日：2024-12-10

Applicant: 季华实验室

Inventor： 卢秋虹 ,  马永会 ,  田敏 ,  熊婷 ,  张敏锐 ,  谭军

IPC: G01N23/20 ,  G01N23/2055

Abstract: 本申请公开了一种位错分类方法、位错分类装置、位错分类设备、存储介质和计算机程序产品，涉及材料微结构检测分析的技术领域，在本申请中，提出一种通过透射电镜，对面心立方金属孪晶结构中的位错类别进行分析表征的方法。针对位错的伯氏矢量与孪晶面间的几何关系，为区分位错的类别，常规操作至少需要标定出全部位错的伯氏矢量再对比定义位错种类才能做出位错区分。而在本申请中，基于在1个晶带轴附近的衍射矢量的双束成像，简单快捷的区分孪晶结构中三类位错。以此，跳过伯氏矢量的计算和位错分类标定，而直接基于双数成像进行位错的分类判别，实现高效、直接的位错分类。

公开(公告)号：CN115144306A

公开(公告)日：2022-10-04

申请号：CN202211059419.5

申请日：2022-08-31

Applicant: 季华实验室

Inventor： 范燕 ,  谭军 ,  卢秋虹

IPC: G01N15/00 ,  G01N1/28

Abstract: 本发明试验测试技术领域，特别涉及一种用于辅助粉末样品检测的装置，通过在搭载台上的导电胶层上放置多个相互独立且依次排布的防护罩，同时让防护罩与对应的导电胶层之间形成密封空间，在防护罩的顶部开设进料口，并且在其侧部开设出气口，在每一个密封空间内设置一个喷料阀，让喷料阀的一端穿过进料口并与外界粉末样品源连通，另一端开设多个喷料孔，利用风力将外界粉末样品源供应的粉末样品吹喷涂至导电胶层上，进而使得在同一个搭载台制备多个待用于测试的粉末样品时，不再需要对粉末样品进行吹或者涂敷，避免了在搭载台上制备粉末样品时存在的粉末样品之间相互污染的缺陷，解决了相关技术在样品台上制备粉末样品时存在交叉污染的隐患。

公开(公告)号：CN119574600A

公开(公告)日：2025-03-07

申请号：CN202411854236.1

申请日：2024-12-16

Applicant: 华南师范大学 ,  季华实验室

Inventor： 王达 ,  张敏锐 ,  曹迪 ,  沈博涵 ,  周玉铎 ,  蔡礼烨 ,  王颂 ,  邓少博 ,  陈祎琪 ,  戴思棋 ,  卢秋虹 ,  熊婷 ,  田敏 ,  姜传斌 ,  谭军 ,  周国富

IPC: G01N23/20008 ,  G01N23/04 ,  G01N1/28

Abstract: 本发明涉及一种用于透射电镜三维重构样品的制备方法，该方法包括步骤：将纳米粒子分散液滴加到多孔膜载网上，风干后将载网固定在样品杆上，所述多孔膜载网的正方形网格与透射电镜样品杆长轴方向成45°角。通过调整样品处理过程中的载网的摆放位置，能保证尽管不在载网中央的区域，旋转样品杆时样品不会被载网所遮挡，可以扩大样品选择区域，从而有更多的纳米颗粒进行选择，提高了测量效率和三维重构图像质量。

公开(公告)号：CN115144306B

公开(公告)日：2022-11-11

申请号：CN202211059419.5

申请日：2022-08-31

Applicant: 季华实验室

Inventor： 范燕 ,  谭军 ,  卢秋虹

IPC: G01N15/00 ,  G01N1/28

Abstract: 本发明试验测试技术领域，特别涉及一种用于辅助粉末样品检测的装置，通过在搭载台上的导电胶层上放置多个相互独立且依次排布的防护罩，同时让防护罩与对应的导电胶层之间形成密封空间，在防护罩的顶部开设进料口，并且在其侧部开设出气口，在每一个密封空间内设置一个喷料阀，让喷料阀的一端穿过进料口并与外界粉末样品源连通，另一端开设多个喷料孔，利用风力将外界粉末样品源供应的粉末样品吹喷涂至导电胶层上，进而使得在同一个搭载台制备多个待用于测试的粉末样品时，不再需要对粉末样品进行吹或者涂敷，避免了在搭载台上制备粉末样品时存在的粉末样品之间相互污染的缺陷，解决了相关技术在样品台上制备粉末样品时存在交叉污染的隐患。