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公开(公告)号：CN112014329B
公开(公告)日：2021-04-20
申请号：CN202011128946.8
申请日：2020-10-21
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及太赫兹成像技术领域，提供了一种半导体产品内部结构成像系统及方法，该系统包括用于发射第一太赫兹波的发射装置；靠近所述发射装置的发射端设置的光调制装置，用于将所述发射装置发射的第一太赫兹波进行空间编码形成具有空间分布的第二太赫兹波，并穿透待测物体得到包含所述待测物体的内部结构图像数据的第三太赫兹波；相对于所述光调制装置设置的接收装置，用于接收所述第三太赫兹波并转化成电信号；及与所述接收装置电连接的远程终端设备，用于接收所述电信号并提取所述图像数据构建所述待测物体的内部结构图像。本发明具有使成像后的图像轮廓更清晰，成像精度更高的优点。
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公开(公告)号：CN112394545A
公开(公告)日：2021-02-23
申请号：CN202011140474.8
申请日：2020-10-22
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种基于量子点的太赫兹调制器及制备方法，太赫兹调制器包括由下至上依次设置的基底材料层、石墨烯薄膜层、量子点层；通过在石墨烯薄膜上设置量子点材料，利用量子点在泵浦光激励下产生大量光生载流子，利用石墨烯薄膜的高迁移率特性，光生载流子快速向石墨烯薄膜扩散转移，实现光生载流子电子‑空穴对分离，使石墨烯薄膜的载流子浓度和电导率快速增加，进而获得较高的太赫兹调制深度与调制速率，实现对太赫兹波的高效调控；此外，本基于量子点的太赫兹调制器结构简单，制作方便，适于推广应用。
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公开(公告)号：CN113960061A
公开(公告)日：2022-01-21
申请号：CN202111580782.7
申请日：2021-12-22
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请属于显示技术领域，公开了一种OLED喷印缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，通过获取已完成像素点发光墨水喷印且未封装的OLED显示器件的像素点内至少一个探测位置点的太赫兹反射波时域数据；太赫兹反射波时域数据是用预设光强的太赫兹脉冲波周期性地照射所述像素点的所述探测位置点时，由所述像素点反射的反射波的光强数据；根据各所述太赫兹反射波时域数据获取各所述探测位置点的指纹谱数据；提取各所述探测位置点的指纹谱数据的最大峰值；对比各所述探测位置点的指纹谱数据的最大峰值与所述像素点的峰值阈值，以判断所述像素点是否为坏点；从而可在封装前准确地检测各像素点是否有坏点，以便于在发现坏点时可进行修复。
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公开(公告)号：CN112612147A
公开(公告)日：2021-04-06
申请号：CN202011402708.1
申请日：2020-12-04
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开一种太赫兹调制器及制备方法，所述太赫兹调制器包括砷化镓基片和石墨烯薄膜；所述砷化镓基片的一面刻蚀有类金字塔结构的突起；所述石墨烯薄膜覆盖在砷化镓基片具有类金字塔结构的突起的一面上。所述太赫兹调制器通过把高电阻率的砷化镓基片刻蚀为金字塔结构，并在基片表面制备一层石墨烯薄膜，这样在激光的作用下可以提高载流子的迁移率，达到对太赫兹波的快速调制。
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公开(公告)号：CN112379537A
公开(公告)日：2021-02-19
申请号：CN202011166034.X
申请日：2020-10-27
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种基于钙钛矿的空间太赫兹调制器及制备方法，通过利用钙钛矿材料具有较高的光电转换效率，在低功率泵浦光激励下即可产生大量光生载流子电子空穴对，为高效太赫兹调控奠定基础；而且由于石墨烯材料具有较高的迁移率，少量的电子与空穴注入，即会使石墨烯薄膜的载流子浓度与电导率显著增加，进而获得较高的太赫兹调制深度；本技术方案采用底部电子调制层与顶部空穴调制层的双层调制结构，充分利用电子与空穴在调制层的集聚效应，增加了光生载流子的利用效率，因而对太赫兹波具有更好的调制深度；此外，本基于钙钛矿的空间太赫兹调制器的结构简单，制作方便，适于推广应用。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113960061B
公开(公告)日：2022-04-01
申请号：CN202111580782.7
申请日：2021-12-22
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请属于显示技术领域，公开了一种OLED喷印缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，通过获取已完成像素点发光墨水喷印且未封装的OLED显示器件的像素点内至少一个探测位置点的太赫兹反射波时域数据；太赫兹反射波时域数据是用预设光强的太赫兹脉冲波周期性地照射所述像素点的所述探测位置点时，由所述像素点反射的反射波的光强数据；根据各所述太赫兹反射波时域数据获取各所述探测位置点的指纹谱数据；提取各所述探测位置点的指纹谱数据的最大峰值；对比各所述探测位置点的指纹谱数据的最大峰值与所述像素点的峰值阈值，以判断所述像素点是否为坏点；从而可在封装前准确地检测各像素点是否有坏点，以便于在发现坏点时可进行修复。
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公开(公告)号：CN113744162A
公开(公告)日：2021-12-03
申请号：CN202111294870.0
申请日：2021-11-03
Applicant: 季华实验室
IPC: G06T5/00
Abstract: 本申请属于图像处理技术领域，公开了一种工业产品图像增强方法、装置、电子设备及存储介质，通过获取待处理的太赫兹图像；对所述待处理的太赫兹图像进行恢复亮度处理；基于优化MSR算法对恢复亮度处理后的太赫兹图像进行增强处理，得到增强图像；从而不仅可以恢复图像场景亮度，消除雾霾，而且可以较好地平衡图像的灰度动态范围和边缘增强，得到的增强图像的细节特征清晰，有利于更准确地检测产品质量。
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公开(公告)号：CN112233201A
公开(公告)日：2021-01-15
申请号：CN202011467825.6
申请日：2020-12-14
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种太赫兹图像重构方法、装置、存储介质及终端，获取目标样品的时域谱数据；将所述目标样品的时域谱数据变换成频域数据；将所述频域数据输入太赫兹图像重构模型，得到目标矩阵；通过所述目标矩阵获得目标图像；本技术方案的太赫兹图像重构模型简单，在保证太赫兹图像复原效果的同时，使得整个太赫兹图像重构过程计算量更低，效率更高。
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公开(公告)号：CN111968119A
公开(公告)日：2020-11-20
申请号：CN202011130171.8
申请日：2020-10-21
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及数据处理领域，提供了一种基于半导体缺陷检测的图像处理方法、装置、设备及介质，该方法包括获取的半导体全频段内部结构图像集，从内部结构图像集中选取频段不同的图像作为源图像；对源图像进行处理得到高通图像块及低通图像块，对低通图像块转换得到低通向量，对低通向量进行编码得到对应的稀疏系数向量，对所有稀疏系数向量进行融合处理得到低通融合向量；对高通图像块转换得到高通向量，根据高通向量与低通向量构建每张源图像的向量集，对所有向量集进行融合处理得到全通融合向量；将低通融合向量与全通融合向量进行重构得到目标向量，将目标向量转换成目标图像。本发明能够提升半导体成像的清晰度，以提升半导体缺陷检测精度。
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公开(公告)号：CN112379537B
公开(公告)日：2023-01-31
申请号：CN202011166034.X
申请日：2020-10-27
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种基于钙钛矿的空间太赫兹调制器及制备方法，通过利用钙钛矿材料具有较高的光电转换效率，在低功率泵浦光激励下即可产生大量光生载流子电子空穴对，为高效太赫兹调控奠定基础；而且由于石墨烯材料具有较高的迁移率，少量的电子与空穴注入，即会使石墨烯薄膜的载流子浓度与电导率显著增加，进而获得较高的太赫兹调制深度；本技术方案采用底部电子调制层与顶部空穴调制层的双层调制结构，充分利用电子与空穴在调制层的集聚效应，增加了光生载流子的利用效率，因而对太赫兹波具有更好的调制深度；此外，本基于钙钛矿的空间太赫兹调制器的结构简单，制作方便，适于推广应用。
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