公开(公告)号：CN111220895A

公开(公告)日：2020-06-02

申请号：CN201911164590.0

申请日：2019-11-25

Applicant: 奥特润株式会社

Inventor： 金连镐 ,  李健 ,  林志训 ,  朴岷志 ,  禹宰赫 ,  崔允镐

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/3167

Abstract: 一种集成电路测试设备，包括：第一测试单元，被配置为在内置自测(BIST)测试模式中根据集成电路的每个内部电路的BIST进度状态来输出BIST进度状态的电流，以用于确定在集成电路的唤醒模式中每个内部电路是否正常操作；以及第一确定模块，被配置为根据由第一测试单元根据每个内部电路的BIST进度状态检测的电流，来确定每个内部电路是否处于停滞状态。

公开(公告)号：CN109002368A

公开(公告)日：2018-12-14

申请号：CN201810575035.6

申请日：2018-06-06

Applicant: 奥特润株式会社

Inventor： 张东温 ,  朴炯玟 ,  金连镐 ,  禹宰赫 ,  李智行 ,  赵源熙

IPC: G06F11/07

CPC classification number: G06F11/0757 ,  G06F11/0724 ,  G06F11/2043

Abstract: 本发明涉及一种监控具有多核的微控制器单元的监控设备的工作方法及多核系统，该方法可包括：向多个核中的第一核传输询问消息的步骤；从所述多个核中的第二核接收响应消息的步骤；利用所述响应消息，判别所述微控制器单元的工作是否非为正常的步骤；当所述微控制器单元的工作为非正常时，从所述多个核中除第二核之外的核接收响应消息的步骤；以及，利用接收到的所述响应消息，检测所述多个核各自的错误的步骤。