荧光分光分析装置
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101278191B

    公开(公告)日:2011-06-08

    申请号:CN200680036276.9

    申请日:2006-09-27

    Abstract: 荧光分光分析装置(100)具有激励光学系(110)、激励光控制部(130)、荧光检测部(140)、信号处理部(150)以及运算部(160)。激励光学系(110)具有生成激励光的激励光照射部(120),激励光控制部(130)控制激励光照射部(120),使不同波长的激励光错开时间排他地照射到试样(S)。激励光照射部(120)将不同波长的激励光照射到试样(S)上的一个部位。荧光检测部(140)根据照射的激励光,检测从试样(S)产生的荧光。信号处理部(150)对反映由荧光检测部(140)得到的荧光强度的信号进行处理。运算部(160)基于激励光控制部(130)引起的照射到试样(S)的激励光的波长的变化和荧光检测部(140)的检测结果,对每一个不同波长的荧光的波动进行相关分析。

    图像解析方法和图像解析装置

    公开(公告)号:CN103917860B

    公开(公告)日:2017-02-15

    申请号:CN201280055334.8

    申请日:2012-10-04

    Inventor: 铃木明美

    Abstract: S1:取得试样的观察区域的1帧或多帧的荧光图像。S2:针对所取得的1帧或多帧各自的观察区域的荧光图像设定1个或多个解析区域。S3:提取与各解析区域对应的像素的数据。S4:设定多个相关计算中分别使用的像素的数据对的多个时间间隔。S5:使用提取出的像素的数据进行相关计算。S6:对相关计算的结果进行拟合。S7:保存解析结果。S8:针对S4中设定的多个时间间隔,分别反复进行S5~S7的操作。

    图像解析方法和图像解析装置

    公开(公告)号:CN103917860A

    公开(公告)日:2014-07-09

    申请号:CN201280055334.8

    申请日:2012-10-04

    Inventor: 铃木明美

    Abstract: S1:取得试样的观察区域的1帧或多帧的荧光图像。S2:针对所取得的1帧或多帧各自的观察区域的荧光图像设定1个或多个解析区域。S3:提取与各解析区域对应的像素的数据。S4:设定多个相关计算中分别使用的像素的数据对的多个时间间隔。S5:使用提取出的像素的数据进行相关计算。S6:对相关计算的结果进行拟合。S7:保存解析结果。S8:针对S4中设定的多个时间间隔,分别反复进行S5~S7的操作。

    荧光分光分析装置
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101278191A

    公开(公告)日:2008-10-01

    申请号:CN200680036276.9

    申请日:2006-09-27

    Abstract: 荧光分光分析装置(100)具有激励光学系(110)、激励光控制部(130)、荧光检测部(140)、信号处理部(150)以及运算部(160)。激励光学系(110)具有生成激励光的激励光照射部(120),激励光控制部(130)控制激励光照射部(120),使不同波长的激励光错开时间排他地照射到试样(S)。激励光照射部(120)将不同波长的激励光照射到试样(S)上的一个部位。荧光检测部(140)根据照射的激励光,检测从试样(S)产生的荧光。信号处理部(150)对反映由荧光检测部(140)得到的荧光强度的信号进行处理。运算部(160)基于激励光控制部(130)引起的照射到试样(S)的激励光的波长的变化和荧光检测部(140)的检测结果,对每一个不同波长的荧光的波动进行相关分析。

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