一种样品进出装置以及质谱仪

    公开(公告)号:CN114384146B

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202111603999.5

    申请日:2021-12-24

    Abstract: 本发明公开了一种样品进出装置,属于飞行时间质谱仪领域,包括壳体以及安装于壳体内部的运动平台,绝缘柱固定于运动平台,升降结构固定于壳体内部,抬升组件滑动安装于壳体,第一杆体滑动安装于壳体并与第二杆体转动连接,第二杆体与抬升组件转动连接,升降驱动件通过传动组件带动第一杆体滑动从而使第二杆体带动抬升组件上下移动,使抬升组件顶起样品台使样品台绝缘柱分离或抬升组件带动样品台下移直至与绝缘柱吸附,本发明质谱仪的样品台通过磁铁吸附与运动平台连接或分离,因此升降结构能够直接安装于壳体内部而无需安装于运动平台,安装调试方便、承重稳定、使用寿命长。本发明还涉及包含上述样品进出装置的质谱仪。

    一种全自动点样仪
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114624079A

    公开(公告)日:2022-06-14

    申请号:CN202210196570.7

    申请日:2022-03-01

    Abstract: 本发明提供一种全自动点样仪,包括:机架;二维驱动机构,用以形成X向和Y向运动的驱动力;点样机构,包括Z向驱动组件、针座、若干点样针;清洗机构;样本组件,用以放置若干芯片及若干样本;摄像机构,其连接于所述二维驱动机构;扫码机构;若干液罐,用以分别存储液体物料及废液。设置二维驱动机构配合点样机构的Z向驱动组件,以实现点样针的三维运动;设置清洗机构以清洗点样针;设置摄像机构以拍摄芯片点样状况,监控点样过程,在漏点、错点时立即报错,以保证点样精确性。设置扫码机构获取样本信息,以配合点样;还设置样本组件,以实现扫码、取样、点样、清洗、监控功能,提高自动化、快速化、智能化的性能。

    一种用于飞行时间质谱的延时电路

    公开(公告)号:CN115799037B

    公开(公告)日:2023-04-14

    申请号:CN202310078083.5

    申请日:2023-02-08

    Abstract: 本发明公开了一种用于飞行时间质谱的延时电路,包括第一触发信号生成电路输入端接收激光器信号,输出端得到信号检测脉冲触发信号;第一延时电路第二输入端接收时钟信号,第三输入端接收至少一个第一预设延时时间,输出端进行延时,延时至少一个第一预设延时时间后输出置位时钟信号;第二延时电路第二输入端接收时钟信号,第三输入端接收第二预设延时时间,输出端基于置位电路输出信号进行延时,延时第二预设延时时间后输出置位信号;置位电路输出端输出高压耦合触发信号;电平转换电路得到TTL电平形式的信号检测脉冲触发信号、高压耦合触发信号。本发明飞行时间质谱延时时间可调范围更大,日益满足大分子质谱分析需求。

    一种针对半圆柱面工件的修研工装及修研方法

    公开(公告)号:CN112873039A

    公开(公告)日:2021-06-01

    申请号:CN202110162203.0

    申请日:2021-02-05

    Abstract: 本发明涉及一种针对半圆柱面工件的修研工装,包括轴向弹性元件和径向弹性元件、修研座、修研杆;待修研件位于修研座内;轴向弹性元件和径向弹性元件对待修研件进行弹性力约束,调整轴向弹性元件和径向弹性元件的弹性力分配;待修研件与修研杆之间产生相对运动使修研杆对待修研件产生修研作用。本发明可用于半圆柱面的高精度位置公差和形状公差修研,采用可调的柔性固定工装,约束待修研件和修研工具之间的正压力分布,并进行不同方向正压力的分解计算,从而在修研过程中,完成半圆柱面的形状公差、位置公差的调正,可用其将修研量和修研参数对应并固化,形成可靠的修研工艺控制。本发明还涉及一种针对半圆柱面工件的修研方法。

    一种用于飞行时间质谱的延时电路

    公开(公告)号:CN115799037A

    公开(公告)日:2023-03-14

    申请号:CN202310078083.5

    申请日:2023-02-08

    Abstract: 本发明公开了一种用于飞行时间质谱的延时电路,包括第一触发信号生成电路输入端接收激光器信号,输出端得到信号检测脉冲触发信号;第一延时电路第二输入端接收时钟信号,第三输入端接收至少一个第一预设延时时间,输出端进行延时,延时至少一个第一预设延时时间后输出置位时钟信号;第二延时电路第二输入端接收时钟信号,第三输入端接收第二预设延时时间,输出端基于置位电路输出信号进行延时,延时第二预设延时时间后输出置位信号;置位电路输出端输出高压耦合触发信号;电平转换电路得到TTL电平形式的信号检测脉冲触发信号、高压耦合触发信号。本发明飞行时间质谱延时时间可调范围更大,日益满足大分子质谱分析需求。

    一种针对半圆柱面工件的修研工装及修研方法

    公开(公告)号:CN112873039B

    公开(公告)日:2022-03-08

    申请号:CN202110162203.0

    申请日:2021-02-05

    Abstract: 本发明涉及一种针对半圆柱面工件的修研工装,包括轴向弹性元件和径向弹性元件、修研座、修研杆;待修研件位于修研座内;轴向弹性元件和径向弹性元件对待修研件进行弹性力约束,调整轴向弹性元件和径向弹性元件的弹性力分配;待修研件与修研杆之间产生相对运动使修研杆对待修研件产生修研作用。本发明可用于半圆柱面的高精度位置公差和形状公差修研,采用可调的柔性固定工装,约束待修研件和修研工具之间的正压力分布,并进行不同方向正压力的分解计算,从而在修研过程中,完成半圆柱面的形状公差、位置公差的调正,可用其将修研量和修研参数对应并固化,形成可靠的修研工艺控制。本发明还涉及一种针对半圆柱面工件的修研方法。

    一种质谱离子激发方法以及装置

    公开(公告)号:CN118130599A

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN202410572400.3

    申请日:2024-05-10

    Abstract: 本发明公开了一种质谱离子激发方法以及装置,属于质谱领域,激光照射至反射镜的反射面上被反射后聚焦于推斥电极的样品上,反射面为抛物面或椭球面,反射后的激光的方向与推斥电极形成的样品安置面垂直使激光垂直入射至样品和基质,样品受到垂直激光的轰击后,产生反向垂直的离子束,推斥电极提供高压,用于离子初始动能调制,加速电极提供高压,用于离子的加速飞行,离子束穿过反射面上的离子通道飞出,采用反射镜反射激光,避免折射导致的由于激光谱段色差引起的焦点发生变化无法聚焦的问题,使激光器能够采用不同多激光谱段,检测时能够使用多种基质;通过反射面使激光垂直入射至样品,避免“斜影效应”,提高质谱分析的灵敏度和分辨率。

Patent Agency Ranking