公开(公告)号：CN105891192A

公开(公告)日：2016-08-24

申请号：CN201610485926.3

申请日：2016-06-24

Applicant: 大连理工大学

Inventor： 徐莘博 ,  刘军山 ,  张文珠 ,  杨正馨 ,  窦文堃 ,  满运程 ,  廖穗杨 ,  何昊阳

IPC: G01N21/76 ,  G01N27/48

CPC classification number: G01N21/76 ,  G01N27/48

Abstract: 本发明涉及一种基于集成三电极体系微芯片的电化学与电化学发光的检测方法。步骤如下：(1)制作集成三电极的聚甲基丙烯酸基片；(2)制作聚二甲基硅氧烷盖片；(3)微芯片?电化学工作站检测装置。本发明首次将不同材料的微电极集成到了单片PMMA基片上，提高了测试装置的集成度，不需外接电极，便携性好、检测响应速度快，检测精度高，可达1×10?6M，并可以进行调整。测试方法的重复性好，100次以上数据误差小。同时清洗电极简单，可更换PDMS盖片，延长了测试装置的使用寿命、使用聚合物材料进行加工，生化兼容性好，基片透明，可兼容电化学与电化学发光检测，化学试剂消耗量为0.1毫升/次，显著地降低了测试成本。