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公开(公告)号:CN110440698B
公开(公告)日:2020-12-11
申请号:CN201910749549.3
申请日:2019-08-14
Applicant: 大连理工大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明属于精密测试技术领域,涉及一种测量任意表面形位误差的激光测量测头装置,包括:球形测头、弹簧限位盘、弹簧、导向轴、密珠轴套、衬套、靶镜安装座、靶镜和外壳。该装置可将测点位置的位移量等比例转换成靶镜的位移量,实现曲面和非反光表面的精密测量;通过调节组件的尺寸既可实现微小位移量的测量,也可以实现大位移量的测量。该装置的位移传递组件间刚性连接,位移的传递精度高;该装置的轴线与待测表面的法线在同一条直线上,无测量阿贝误差。该装置具有结构简单、无测量阿贝误差、使用范围广、位移传递精度高等优点,具有良好的市场应用前景与推广价值。
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公开(公告)号:CN109282777B
公开(公告)日:2019-08-20
申请号:CN201811245394.1
申请日:2018-10-25
Applicant: 大连理工大学
IPC: G01B21/02
Abstract: 本发明属于精密机械测试技术领域,提出了一种用于微位移方向转换的双向测头装置,包括双向测头、微位移传感器、密珠轴套、测量球、法兰套筒、支座、挡板。该装置利用测头连接杆上的V型槽结构,通过高精度测量钢球可将双向测头微位移采集方向上的微位移量等量转换成与其垂直的、沿微位移传感器测量方向向上的位移量,从而无需翻转测量装置就可以测量两个方向微位移量的测量,具有结构简单,成本低、操作方便、位移传递精度高的优点。
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公开(公告)号:CN108581080A
公开(公告)日:2018-09-28
申请号:CN201810466326.1
申请日:2018-05-09
Applicant: 大连理工大学
IPC: B23F19/00
Abstract: 本发明属于精密加工技术领域,为进一步提高超精密齿轮的加工精度,基于啮合齿轮齿面偏差的误差均化效应,提供了一种提高齿轮加工精度的对研装置与对研方法。装置包括主动摩擦轮、主动皮带轮、传动带A、连杆A、回转轴段A、密珠轴套、对研齿轮A、摆杆拉簧、从动摩擦轮、从动摩擦轮摆杆、从动皮带轮、传动带B、连杆B、张紧轮压簧、张紧机构、回转轴段B、对研齿轮B。该装置通过对研可同步减小齿轮齿距、齿廓、螺旋线和径跳偏差,具有加工成本低,改善齿轮齿距、齿廓、螺旋线和径跳精度的效果显著,并可减小齿面的粗糙度误差。本发明提供的齿轮对研方法可推广到高端传动装置齿轮副的对研中,具有良好的市场应用前景与推广价值。
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公开(公告)号:CN109855570B
公开(公告)日:2020-01-24
申请号:CN201811422262.1
申请日:2018-11-27
Applicant: 大连理工大学
IPC: G01B11/27
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域,涉及一种平面直线度误差的测量装置及其使用方法,装置包括:刀口尺夹持装置、精化刀口尺、变波长LED灯带、亚克力薄膜、LED灯带控制装置、电源。本发明的刀口尺夹持装置,解决手扶刀口尺时刀口尺与被测平面存在偏摆的问题,通过精化刀口尺的直线度误差,提高了刀口尺光隙法测量直线度误差的精度;通过将变波长LED灯带和观测孔集成在夹持装置上,测量更简便;根据不同波长光的可见性来判断刀口尺和被测平面之间的间隙大小,进而判断待测平面的直线度误差。该装置的测量精度相较于传统的刀口尺光隙法测量直线度误差提高了一倍以上,具有测量效率高、使用方便、成本低的优点,具有广阔的市场应用前景。
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公开(公告)号:CN109186511B
公开(公告)日:2019-08-20
申请号:CN201811078252.0
申请日:2018-09-17
Applicant: 大连理工大学
IPC: G01B21/00
Abstract: 本发明属于精密齿轮测试技术领域,公开了一种基准级齿轮螺旋线样板。本发明提供的一种易于通过展成加工法获得高精度的基准级齿轮螺旋样板为整体对称结构,样板的质心点通过样板芯轴的几何中心,基准级齿轮螺旋样板圆柱面上设有直齿槽、左旋齿槽和右旋齿槽、轴向基准环面和径向基准圆柱面、细牙螺纹和中心孔。其中,直齿槽包括0°螺旋角的异侧渐开圆柱面各一条,左旋齿槽包括左旋15°和左旋30°渐开螺旋面各一条,右旋齿槽包括右旋15°和右旋30°渐开螺旋面各一条。本发明提供的基准级齿轮螺旋线样板,其设计、加工和测量基准统一,结构对称,质量平衡,两端可安装基圆盘便于采用展成加工法获得高的加工精度。
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公开(公告)号:CN109282777A
公开(公告)日:2019-01-29
申请号:CN201811245394.1
申请日:2018-10-25
Applicant: 大连理工大学
IPC: G01B21/02
Abstract: 本发明属于精密机械测试技术领域,提出了一种用于微位移方向转换的双向测头装置,包括双向测头、微位移传感器、密珠轴套、测量球、法兰套筒、支座、挡板。该装置利用测头连接杆上的V型槽结构,通过高精度测量钢球可将双向测头微位移采集方向上的微位移量等量转换成与其垂直的、沿微位移传感器测量方向向上的位移量,从而无需翻转测量装置就可以测量两个方向微位移量的测量,具有结构简单,成本低、操作方便、位移传递精度高的优点。
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公开(公告)号:CN110509170B
公开(公告)日:2020-11-03
申请号:CN201910735357.7
申请日:2019-08-09
Applicant: 大连理工大学
Abstract: 本发明属于精密加工技术领域,涉及一种环抛机用超硬磨盘和修正盘。为解决现有研抛机的磨盘和修正盘存在的问题,本发明提供了一种由圆盘形大理石基体和正六棱柱超硬油石组成的环抛机用超硬磨盘和修正盘;用同规格的正六棱柱超硬油石通过拼接和直线切割成大面积蜂窝状近圆形盘体,并用胶粘于具有较低热膨胀系数的圆盘形大理石基体上,制成超硬磨盘和修正盘;可用于金属、非金属平面零件的超精密研抛加工,具有制作工艺简单、加工成本较低、使用范围广、磨盘和修正盘精度保持性好、加工精度高等优点,可代替现有的环抛机用大理石或铸铁磨盘及修正盘,具有广阔的市场应用前景。
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公开(公告)号:CN110440698A
公开(公告)日:2019-11-12
申请号:CN201910749549.3
申请日:2019-08-14
Applicant: 大连理工大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明属于精密测试技术领域,涉及一种测量任意表面形位误差的激光测量测头装置,包括:球形测头、弹簧限位盘、弹簧、导向轴、密珠轴套、衬套、靶镜安装座、靶镜和外壳。该装置可将测点位置的位移量等比例转换成靶镜的位移量,实现曲面和非反光表面的精密测量;通过调节组件的尺寸既可实现微小位移量的测量,也可以实现大位移量的测量。该装置的位移传递组件间刚性连接,位移的传递精度高;该装置的轴线与待测表面的法线在同一条直线上,无测量阿贝误差。该装置具有结构简单、无测量阿贝误差、使用范围广、位移传递精度高等优点,具有良好的市场应用前景与推广价值。
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公开(公告)号:CN109855570A
公开(公告)日:2019-06-07
申请号:CN201811422262.1
申请日:2018-11-27
Applicant: 大连理工大学
IPC: G01B11/27
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域,涉及一种平面直线度误差的测量装置及其使用方法,装置包括:刀口尺夹持装置、精化刀口尺、变波长LED灯带、亚克力薄膜、LED灯带控制装置、电源。本发明的刀口尺夹持装置,解决手扶刀口尺时刀口尺与被测平面存在偏摆的问题,通过精化刀口尺的直线度误差,提高了刀口尺光隙法测量直线度误差的精度;通过将变波长LED灯带和观测孔集成在夹持装置上,测量更简便;根据不同波长光的可见性来判断刀口尺和被测平面之间的间隙大小,进而判断待测平面的直线度误差。该装置的测量精度相较于传统的刀口尺光隙法测量直线度误差提高了一倍以上,具有测量效率高、使用方便、成本低的优点,具有广阔的市场应用前景。
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公开(公告)号:CN109570643A
公开(公告)日:2019-04-05
申请号:CN201811559285.7
申请日:2018-12-20
Applicant: 大连理工大学
IPC: B23F23/00
Abstract: 本发明属于精密加工技术领域,涉及一种高精度齿轮齿面展成抛光装置,基于羊毛毡抛光原理,提出一种采用变中心距工艺进行高精度齿轮齿面展成抛光的装置,通过调整偏心盘与回转轴A的相对位置,使齿形羊毛毡轮绕回转轴A作偏心回转运动,从而在啮合过程中周期性地改变齿形羊毛毡轮和高精度齿轮的中心距,避免啮合过程中齿形羊毛毡轮和高精度齿轮之间产生相对滑动速度为零的情况,减小对齿轮齿廓精度的影响;利用齿形羊毛毡轮与高精度齿轮啮合压力和相对滑动实现齿面的展成抛光,改变高精度齿轮经磨削加工后的表面纹路。本发明提供了一种高精度齿轮展成抛光装置,具有加工成本低、效率高、操作简单、抛光效果显著的优点,具有重要的推广应用价值。
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