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公开(公告)号：CN113495042A
公开(公告)日：2021-10-12
申请号：CN202110367194.9
申请日：2021-04-06
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor： 若山育央
IPC: G01N15/02
Abstract: 本发明涉及粒径测定方法、粒径测定装置及粒径测定程序，设定与作为测定对象的粒径相应的适当的测定时间，节省无用的测定时间。粒径测定方法包括：测试测定步骤，在包括预先设定的多个测定时刻的测试测定时间内对试样照射光，测定被试样散射的散射光的测试测定强度；自相关函数计算步骤，计算表示测试测定强度的自相关与时间之间的关系的自相关函数；设定步骤，基于到自相关函数低于规定的阈值为止的时间和对该时间加计而设定的预备时间，设定预先设定的多个测定时刻中的在正式测定中使用的一部分测定时刻；正式测定步骤，在包括一部分测定时刻的正式测定时间内测定散射光的正式测定强度；以及粒径计算步骤，基于正式测定强度计算试样的粒径。
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公开(公告)号：CN117705763A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202311185281.8
申请日：2023-09-14
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01N21/51
Abstract: 本发明提供一种具备有助于光散射测定装置的小型化的光学元件保持器的光散射测定装置。本发明提供一种光散射测定装置，其具备：光源；试样池，容纳试样，供来自光源的光射入；检测部，检测从试样池射出的出射光；光学元件保持器，具有旋转轴，并且保持包括分别以朝向旋转轴的方式设于旋转轴的周围的第一光学元件和第二光学元件的多个光学元件，该旋转轴与由出射光从试样池去往检测部的路径确定的平面正交；以及光学元件保持器支承部，将光学元件保持器支承为能绕旋转轴旋转，光学元件保持器至少能在第一光学元件位于路径上的第一姿势与第二光学元件位于路径上的第二姿势之间旋转。
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公开(公告)号：CN113533484A
公开(公告)日：2021-10-22
申请号：CN202110405748.X
申请日：2021-04-15
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01N27/447
Abstract: 本发明提供一种电动电位测定用夹具，其不需要专用工具就能以简便的作业将试样配置于盒。用于电泳迁移率测定装置的电动电位测定用夹具具有：框体，具有相互对置配置并且在分别对应的位置具有开口的第一和第二保持壁以及将第一与第二保持壁的各下端连结的底壁；中间块，在第一与第二保持壁之间构成保持试样的保持空间的一部分，在配置于开口的侧方的盒的上方或下方邻接配置；以及盒按压件，在第一与第二保持壁之间配置于比中间块靠上方，将盒和中间块向底壁侧按压，第一和第二保持壁中的至少一方具有用于从侧方支承中间块的第一槽或与第一突起中的一方，该第一突起弹性地嵌合于该第一槽，中间块具有第一槽或第一突起中的另一方。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109211741B
公开(公告)日：2022-06-17
申请号：CN201810708073.4
申请日：2018-07-02
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01N15/02
Abstract: 本发明的光学测定装置包含：主体基座、可移动地结合于所述主体基座的光学基座、固定于所述光学基座的测定光学系统、以及使所述光学基座相对于所述主体基座进行相对移动的光学基座移动机构。所述光学基座移动机构使所述光学基座相对于所述主体基座在内部测定位置与外部测定位置之间进行相对移动。内部测定位置是指所述测定光学系统的测定对象位置位于设定在所述主体基座内的内部测定对象位置的位置。外部测定位置是指所述测定光学系统的测定对象位置位于设定在所述主体基座外的外部测定对象位置的位置。
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公开(公告)号：CN114509372A
公开(公告)日：2022-05-17
申请号：CN202111360763.3
申请日：2021-11-17
Applicant: 大塚电子株式会社
Abstract: 本发明提供一种光散射测定装置以及测定用夹具，能实施前向测定或者侧向测定和后向测定双方，且具有单个受光器，由此小型且低成本。一种光散射测定装置，具有：光源；单个受光器；试样保持部，具有试样池、框体以及光学元件，其中，该框体具有配置试样池的保持空间、形成为用于前向测定或者侧向测定中的至少任意一方的测定的第一光路的入射部的第一开口以及形成为用于后向测定的第二光路的入射部的第二开口，该光学元件具有与空腔的侧面成一定的角度的第一面；以及移动机构，使测定用夹具在铅垂方向移动。光学元件配置于第一光路或者第二光路的入射部或者出射部。第一光路和第二光路在铅垂方向分离。移动机构在进行前向测定或者侧向测定的情况下，使第一开口移动至第一光路的入射部的位置，在进行后向测定的情况下，使第二开口移动至第二光路的入射部的位置。
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公开(公告)号：CN109211741A
公开(公告)日：2019-01-15
申请号：CN201810708073.4
申请日：2018-07-02
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01N15/02
CPC classification number: G01N15/1434 , G01B11/08 , G01N15/0211 , G01N21/51 , G01N21/53 , G01N2015/03 , G01N2015/1493 , G01N2021/015 , G01N2201/024 , G01N2201/0245 , G01N15/0205
Abstract: 本发明的光学测定装置包含：主体基座、可移动地结合于所述主体基座的光学基座、固定于所述光学基座的测定光学系统、以及使所述光学基座相对于所述主体基座进行相对移动的光学基座移动机构。所述光学基座移动机构使所述光学基座相对于所述主体基座在内部测定位置与外部测定位置之间进行相对移动。内部测定位置是指所述测定光学系统的测定对象位置位于设定在所述主体基座内的内部测定对象位置的位置。外部测定位置是指所述测定光学系统的测定对象位置位于设定在所述主体基座外的外部测定对象位置的位置。
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