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公开(公告)号：CN105718835A
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201610024018.4
申请日：2016-01-14
Applicant: 大唐微电子技术有限公司 , 大唐半导体设计有限公司
Abstract: 本发明公开了一种数字整形电路。本实施例提供的数字整形电路包括：有效下降沿检测装置和低电平恢复装置；有效下降沿检测装置用于根据模拟解调电路输出的解调包络信号和载波时钟对解调包络信号进行整形，对整形后得到的下降沿信号进行伪低电平滤除处理，输出有效下降沿信号，并将有效下降沿信号传输给低电平恢复装置；低电平恢复装置用于根据有效下降沿信号和载波时钟，生成整形包络信号。本发明解决了现有技术中对非接触式IC卡的解码普遍存在解码电路的容错能力较差，以及解码电路防伪低电平的能力较差的问题。
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公开(公告)号：CN105629154B
公开(公告)日：2019-01-25
申请号：CN201510994235.1
申请日：2015-12-25
Applicant: 大唐微电子技术有限公司 , 大唐半导体设计有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种实现芯片顶层金属覆盖测试的方法及装置，包括：对顶层金属覆盖电路的所有金属线，逐次分批的选择部分金属线进行输入数据的信号翻转；每一批次金属线完成输入数据的信号翻转时，对所有金属线的输入数据和输出数据进行比较分析；根据所有批次的输入数据和输出数据的比较分析结果进行汇总，根据汇总结果确定芯片顶层金属覆盖电路的功能是否正常。本发明方法通过逐次分批选择部分金属线进行输入数据的信号翻转，对所有批次信号翻转的输入数据和输出数据进行比较分析，通过逻辑完整性电路实现了对顶层金属覆盖电路功能是否正常的判断，降低了顶层金属覆盖电路测试成本，提高了顶层金属覆盖电路测试的工作效率。
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公开(公告)号：CN105510688B
公开(公告)日：2018-09-04
申请号：CN201610048574.5
申请日：2016-01-25
Applicant: 大唐微电子技术有限公司 , 大唐半导体设计有限公司
IPC: G01R19/165 , G01R31/28
Abstract: 本发明实施例提供了一种实现CP测试的电压检测器，包括：传感器电路，用于感应智能卡电源电压，并将所述电源电压传递给判决电路；判决电路，由比较器构成，用于将传感器电路传递过来的电源电压与参考基准电压进行比较，并将模拟信号的比较结果转化为数字信号的比较结果；逻辑电路，用于根据判决电路传递过来的比较结果进行电压检测器的CP测试，如果比较结果不在预先设定的容差范围内，则输出报警信号。本发明实施例实现了在一个电压下同时进行高低压报警点的测试。
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公开(公告)号：CN106776104A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201610994244.5
申请日：2016-11-11
Applicant: 大唐微电子技术有限公司 , 大唐半导体设计有限公司
Abstract: 一种快闪记忆体(Nand Flash)控制器和终端以及控制Nand Flash的方法和装置，包括：第一寄存器，第三寄存器，Nand Flash状态机电路，用于解析第一寄存器中的命令，当解析得到的命令为写入命令时，将第三寄存器中需要写入Nand Flash的数据写入双口随机存取存储器DPRAM信号输入输出电路中，并写入Nand Flash中；在将第二预设长度的数据写入Nand Flash后，读取ECC产生模块中的寄存器组中的冗余码写入到Nand Flash中；DPRAM信号输入输出电路，用于存储Nand Flash状态机电路写入的数据；ECC产生模块包括编码子模块和寄存器组；编码子模块，用于在Nand Flash状态机电路将DPRAN信号输入输出电路中需要写入Nand Flash的数据写入Nand Flash的过程中，根据预先配置的纠错能力对需要写入Nand Flash的数据进行编码运算得到冗余码，并存入寄存器组。
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公开(公告)号：CN106771981A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201710037683.1
申请日：2017-01-18
Applicant: 大唐微电子技术有限公司 , 大唐半导体设计有限公司
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/2851 , G01R31/2884
Abstract: 本发明公开了一种测试控制电路、芯片及测试控制方法，包括测试使能单元，用于产生测试使能信号，并将产生的测试使能信号输出至电源控制单元、验证单元和测试激励单元；电源控制单元，根据接收的测试使能信号，确定是否向验证单元供电；验证单元，用于在供电状态下，当接收的测试使能信号有效时，验证划片槽是否被划片，如果划片槽未被划片，产生允许测试的信号至测试激励单元；测试激励单元，用于当接收的测试使能信号和允许测试的信号均有效时，产生用于测试被测电路的测试激励信号。本发明能够有效降低测试控制电路在非测试模式下的静态功耗。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105786735A
公开(公告)日：2016-07-20
申请号：CN201610094808.X
申请日：2016-02-19
Applicant: 大唐微电子技术有限公司 , 大唐半导体设计有限公司
IPC: G06F13/28
CPC classification number: G06F13/28
Abstract: 一种直接内存存取DMA控制器，所述DMA控制器包括信息接收模块、控制模块以及处理模块：信息接收模块用于接收中央处理器CPU为DMA控制器配置的参数；控制模块用于当处于DMA工作模式时，根据参数判断是否允许处理模块运行；处理模块用于进行DMA数据读写操作；其中，参数包括传输长度、源起始地址、目的起始地址、源地址限制范围以及目的地址限制范围。上述方案通过配置限制访问区域，实现了DMA控制器数据访问的安全性。同时，DMA控制器工作时不占用系统总线，使DMA控制器与CPU可以并行工作，有效提高了处理效率。
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公开(公告)号：CN105510688A
公开(公告)日：2016-04-20
申请号：CN201610048574.5
申请日：2016-01-25
Applicant: 大唐微电子技术有限公司 , 大唐半导体设计有限公司
IPC: G01R19/165 , G01R31/28
Abstract: 本发明实施例提供了一种实现CP测试的电压检测器，包括：传感器电路，用于感应智能卡电源电压，并将所述电源电压传递给判决电路；判决电路，由比较器构成，用于将传感器电路传递过来的电源电压与参考基准电压进行比较，并将模拟信号的比较结果转化为数字信号的比较结果；逻辑电路，用于根据判决电路传递过来的比较结果进行电压检测器的CP测试，如果比较结果不在预先设定的容差范围内，则输出报警信号。本发明实施例实现了在一个电压下同时进行高低压报警点的测试。
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公开(公告)号：CN106776104B
公开(公告)日：2020-04-03
申请号：CN201610994244.5
申请日：2016-11-11
Applicant: 大唐微电子技术有限公司 , 大唐半导体设计有限公司
Abstract: 一种快闪记忆体(Nand Flash)控制器和终端以及控制Nand Flash的方法和装置，包括：第一寄存器，第三寄存器，Nand Flash状态机电路，用于解析第一寄存器中的命令，当解析得到的命令为写入命令时，将第三寄存器中需要写入Nand Flash的数据写入双口随机存取存储器DPRAM信号输入输出电路中，并写入Nand Flash中；在将第二预设长度的数据写入Nand Flash后，读取ECC产生模块中的寄存器组中的冗余码写入到Nand Flash中；DPRAM信号输入输出电路，用于存储Nand Flash状态机电路写入的数据；ECC产生模块包括编码子模块和寄存器组；编码子模块，用于在Nand Flash状态机电路将DPRAN信号输入输出电路中需要写入Nand Flash的数据写入Nand Flash的过程中，根据预先配置的纠错能力对需要写入Nand Flash的数据进行编码运算得到冗余码，并存入寄存器组。
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公开(公告)号：CN105629154A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201510994235.1
申请日：2015-12-25
Applicant: 大唐微电子技术有限公司 , 大唐半导体设计有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种实现芯片顶层金属覆盖测试的方法及装置，包括：对顶层金属覆盖电路的所有金属线，逐次分批的选择部分金属线进行输入数据的信号翻转；每一批次金属线完成输入数据的信号翻转时，对所有金属线的输入数据和输出数据进行比较分析；根据所有批次的输入数据和输出数据的比较分析结果进行汇总，根据汇总结果确定芯片顶层金属覆盖电路的功能是否正常。本发明方法通过逐次分批选择部分金属线进行输入数据的信号翻转，对所有批次信号翻转的输入数据和输出数据进行比较分析，通过逻辑完整性电路实现了对顶层金属覆盖电路功能是否正常的判断，降低了顶层金属覆盖电路测试成本，提高了顶层金属覆盖电路测试的工作效率。
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公开(公告)号：CN105718835B
公开(公告)日：2018-12-28
申请号：CN201610024018.4
申请日：2016-01-14
Applicant: 大唐微电子技术有限公司 , 大唐半导体设计有限公司
Abstract: 本发明公开了一种数字整形电路。本实施例提供的数字整形电路包括：有效下降沿检测装置和低电平恢复装置；有效下降沿检测装置用于根据模拟解调电路输出的解调包络信号和载波时钟对解调包络信号进行整形，对整形后得到的下降沿信号进行伪低电平滤除处理，输出有效下降沿信号，并将有效下降沿信号传输给低电平恢复装置；低电平恢复装置用于根据有效下降沿信号和载波时钟，生成整形包络信号。本发明解决了现有技术中对非接触式IC卡的解码普遍存在解码电路的容错能力较差，以及解码电路防伪低电平的能力较差的问题。
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