公开(公告)号：CN109946329B

公开(公告)日：2022-02-01

申请号：CN201811334347.4

申请日：2018-11-09

Applicant: 夏普株式会社 ,  国立研究开发法人产业技术综合研究所

Inventor： 三好寿顕 ,  藤原健 ,  加藤英俊 ,  铃木良一

IPC: G01N23/203 ,  G01N23/04

Abstract: 本发明能够在不使用捕捉微弱的X射线的特别结构的情况下检测X射线，使后方散射X射线像成像。本发明的X射线测量装置具备：X射线照射部(10)，其对测量对象(2)照射X射线；传感器(20)，其对与在测量对象(2)上反射的后方散射X射线对应的电信号进行检测；测量部(40)，其参照传感器(20)输出的电信号来测量测量对象(20)；以及重金属板(30)，其使后方散射X射线通过，并形成有使后方散射X射线在传感器(20)上成像的针孔(32)。

公开(公告)号：CN110726739A

公开(公告)日：2020-01-24

申请号：CN201910579946.0

申请日：2019-06-28

Applicant: 夏普株式会社 ,  国立研究开发法人产业技术综合研究所

Inventor： 三好寿顕 ,  富安一秀 ,  中村涉 ,  藤原健

IPC: G01N23/04

Abstract: 无损检测装置(10)包括X射线源(11)、检测X射线(19)的摄像面板(14)和遮蔽X射线的遮蔽板(15)，摄像面板(14)及遮蔽板(15)具有能够弯曲的可挠性。

公开(公告)号：CN109946329A

公开(公告)日：2019-06-28

申请号：CN201811334347.4

申请日：2018-11-09

Applicant: 夏普株式会社 ,  国立研究开发法人产业技术综合研究所

Inventor： 三好寿顕 ,  藤原健 ,  加藤英俊 ,  铃木良一

IPC: G01N23/203 ,  G01N23/04

Abstract: 本发明能够在不使用捕捉微弱的X射线的特别结构的情况下检测X射线，使后方散射X射线像成像。本发明的X射线测量装置具备：X射线照射部(10)，其对测量对象(2)照射X射线；传感器(20)，其对与在测量对象(2)上反射的后方散射X射线对应的电信号进行检测；测量部(40)，其参照传感器(20)输出的电信号来测量测量对象(20)；以及重金属板(30)，其使后方散射X射线通过，并形成有使后方散射X射线在传感器(20)上成像的针孔(32)。