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公开(公告)号：CN100576539C
公开(公告)日：2009-12-30
申请号：CN200710005928.9
申请日：2007-02-15
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G01R31/2884
Abstract: 本发明的半导体晶片包括连接了半导体芯片的内部电路和测试焊盘的开关电路。此外，在划线区域或所述半导体芯片内，包括开关控制用焊盘，它被上拉或下拉到所述半导体晶片的衬底电位的同电位，被提供用于使所述开关电路导通的与所述衬底电位不同的电位的信号。而且，在所述测试焊盘上，连接有插入在所述测试焊盘间且相互相邻的所述半导体芯片的各个所述开关电路。
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公开(公告)号：CN101093983A
公开(公告)日：2007-12-26
申请号：CN200710101975.3
申请日：2007-04-27
Applicant: 夏普株式会社
IPC: H03K3/0233 , H03K5/24 , H04B10/158
CPC classification number: H03K5/1252 , H03K3/0377 , H03K5/088
Abstract: 本发明的比较电路包括：充放电电路，对应于输入脉冲信号的切换，通过充放电电流对电容交替地进行充放电；比较器电路，通过分别比较电容的电容电压(Csig)、第一阈值电压(Vth1)和比第一阈值电压大的第二阈值电压(Vth2)，生成对应于比较结果的脉冲信号，并且将该脉冲信号作为用于切换输出脉冲信号的电平的信号输出到输出信号生成电路；逻辑处理电路，根据上述被生成的脉冲信号，生成用于调整充放电电路的充放电电流的电流值的信号而输出到充放电电路，从而调整充放电电流的电流值。按照上述结构，可以在比较电路中，一边具有误动作防止能力，一边提高输出具有与暂停期间短的输入脉冲的周期相同的周期的脉冲的能力。
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公开(公告)号：CN100581055C
公开(公告)日：2010-01-13
申请号：CN200710101975.3
申请日：2007-04-27
Applicant: 夏普株式会社
IPC: H03K3/0233 , H03K5/24 , H04B10/158
CPC classification number: H03K5/1252 , H03K3/0377 , H03K5/088
Abstract: 本发明的比较电路包括：充放电电路，对应于输入脉冲信号的切换，通过充放电电流对电容交替地进行充放电；比较器电路，通过分别比较电容的电容电压(Csig)、第一阈值电压(Vth1)和比第一阈值电压大的第二阈值电压(Vth2)，生成对应于比较结果的脉冲信号，并且将该脉冲信号作为用于切换输出脉冲信号的电平的信号输出到输出信号生成电路；逻辑处理电路，根据上述被生成的脉冲信号，生成用于调整充放电电路的充放电电流的电流值的信号而输出到充放电电路，从而调整充放电电流的电流值。按照上述结构，可以在比较电路中，一边具有误动作防止能力，一边提高输出具有与暂停期间短的输入脉冲的周期相同的周期的脉冲的能力。
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公开(公告)号：CN101378068A
公开(公告)日：2009-03-04
申请号：CN200810214270.7
申请日：2008-08-29
Applicant: 夏普株式会社
IPC: H01L27/146 , H01L27/148 , H01L21/822
CPC classification number: H01L27/14685 , H01L27/14621 , H01L27/14625 , H01L27/14627 , H01L27/14636
Abstract: 一种固态图像捕获装置，设置有：布置于半导体基板的表面部分上的多个光接收元件；用于该多个光接收元件的每一个的每个颜色的彩色滤光器，层间绝缘膜布置于其间；以及分别用于将入射光会聚到该多个光接收元件的每一个的多个微透镜，其中在层间绝缘膜上的钝化和氢烧结工艺膜被除去的状态下，该层间绝缘膜直接设置于每个颜色的彩色滤光器下方。
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公开(公告)号：CN100414835C
公开(公告)日：2008-08-27
申请号：CN200410061725.8
申请日：2004-07-01
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: H03G3/3084
Abstract: 以往，载波检测电路根据接收信号进行积分动作来形成载波检测电平，用该载波检测电平来检测有无载波，在对进行上述积分动作的积分器中的积分电容进行充放电时，进行以下其中一种。即，对应于用上述载波检测电平鉴别上述接收信号的电平的结果只进行充电或放电中的一个，或者在始终进行恒定电平的放电的状态下进行与上述鉴别结果对应的充电。相反，本发明提供一种载波检测电路，始终对上述积分电容进行充电和放电这两者，对应于上述鉴别结果来改变其电平。即，用充电电路的充电电流和放电电路的放电电流的差分电流，来进行积分电容的充放电。由此，不会产生减小流过晶体管的电流而发生的问题，能够缩小芯片面积。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1642002A
公开(公告)日：2005-07-20
申请号：CN200510004409.1
申请日：2005-01-13
Applicant: 夏普株式会社
IPC: H03G3/10
CPC classification number: H03G3/3084 , G08C23/04
Abstract: 本发明提供一种可降低增益调整电流中重叠的噪声的可变增益放大器、载波检测电路系统和使用它们的红外线遥控接收机，在增益被调整的上述放大器的正和负的各输出电压(Vo1、Vo2)上连接作为由增益调整用电流的1/2构成的恒流的AGC电路输出电流(1/2)(Iagc)。
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公开(公告)号：CN101030579A
公开(公告)日：2007-09-05
申请号：CN200710005928.9
申请日：2007-02-15
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G01R31/2884
Abstract: 本发明的半导体晶片包括连接了半导体芯片的内部电路和测试焊盘的开关电路。此外，在划线区域或所述半导体芯片内，包括开关控制用焊盘，它被上拉或下拉到所述半导体晶片的衬底电位的同电位，被提供用于使所述开关电路导通的与所述衬底电位不同的电位的信号。而且，在所述测试焊盘上，连接有插入在所述测试焊盘间且相互相邻的所述半导体芯片的各个所述开关电路。
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公开(公告)号：CN1578115A
公开(公告)日：2005-02-09
申请号：CN200410061725.8
申请日：2004-07-01
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: H03G3/3084
Abstract: 以往，载波检测电路根据接收信号进行积分动作来形成载波检测电平，用该载波检测电平来检测有无载波，在对进行上述积分动作的积分器中的积分电容进行充放电时，进行以下其中一种。即，对应于用上述载波检测电平鉴别上述接收信号的电平的结果只进行充电或放电中的一个，或者在始终进行恒定电平的放电的状态下进行与上述鉴别结果对应的充电。相反，本发明提供一种载波检测电路，始终对上述积分电容进行充电和放电这两者，对应于上述鉴别结果来改变其电平。即，用充电电路的充电电流和放电电路的放电电流的差分电流，来进行积分电容的充放电。由此，不会产生减小流过晶体管的电流而发生的问题，能够缩小芯片面积。
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