公开(公告)号：CN1940994B

公开(公告)日：2011-01-05

申请号：CN200610141619.X

申请日：2006-09-27

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 口井敏匡 ,  市原英行

IPC: G06T7/00 ,  G06T5/00

CPC classification number: G06T7/0004

Abstract: 本发明提供一种缺陷检测装置，具有：块分割部，把成为检测缺陷区域的被检测图像分割为多个块；块相加值计算部，计算由块分割部分割的各块的块相加值，其中，该块相加值是对块内存在的像素的像素数据进行相加后所得到的值；统计处理部及优劣判断部，通过统计处理来判断是否存在块相加值的误差值，从而判断是否存在缺陷区域。由此，可由紧凑的电路结构在短时间内判断出数字图像是否存在缺陷区域。

公开(公告)号：CN1940994A

公开(公告)日：2007-04-04

申请号：CN200610141619.X

申请日：2006-09-27

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 口井敏匡 ,  市原英行

IPC: G06T7/00 ,  G06T5/00

CPC classification number: G06T7/0004

Abstract: 本发明提供一种缺陷检测装置，具有：块分割部，把成为检测缺陷区域的被检测图像分割为多个块；块相加值计算部，计算由块分割部分割的各块的块相加值，其中，该块相加值是对块内存在的像素的像素数据进行相加后所得到的值；统计处理部及优劣判断部，通过统计处理来判断是否存在块相加值的误差值，从而判断是否存在缺陷区域。由此，可由紧凑的电路结构在短时间内判断出数字图像是否存在缺陷区域。