提高曝光图形分辨率的控制方法及应用其的无掩膜光刻系统

    公开(公告)号:CN118033989A

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202410328053.X

    申请日:2024-03-21

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明公开了提高曝光图形分辨率的控制方法及应用其的无掩膜光刻系统,属于无掩膜光刻技术领域。本发明提高曝光图形分辨率的控制方法,用于无掩膜光刻系统;该控制方法包括以下步骤:步骤S1、调节载物台模块的倾斜角度;步骤S2、获取样品并放置于载物台模块;步骤S3、无掩膜光刻系统在样品表面形成投影光斑;步骤S4、调节载物台模块与曝光模块的距离,在终端设备上进行图像观察与分析,直至获得样品上投影光斑的清晰图像;步骤S5、设置终端设备的控制参数对样品进行曝光,曝光后对样品进行显影获得曝光图形。本发明的控制方法通过改变载物台模块的倾斜角度,来改变样品与曝光光束的夹角,可以有效的减小曝光图形的尺寸,提高其分辨率。

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