公开(公告)号：CN117436224A

公开(公告)日：2024-01-23

申请号：CN202210810901.1

申请日：2022-07-11

Applicant: 复旦大学

Inventor： 曾璇 ,  严昌浩 ,  杨帆 ,  周电 ,  王孝东

IPC: G06F30/20 ,  G06N7/01 ,  G06F111/04 ,  G06F111/08

Abstract: 本发明属于集成电路技术领域，涉及一种基于偏好学习模型的模拟电路成品率优化方法。本方法中采用多尺度采样方法，逐渐提高工艺参数分布的标准差σ并执行成品率分析，通过放大不同设计点成品率之间的差距，更容易分辨设计点成品率的高低；采用基于偏好学习的高斯过程分类GPC模型对设计点间多尺度采样成品率的比较结果建模；采用偏好贝叶斯优化框架对GPC模型进行优化，利用汤普森采样获取函数平衡优化过程中的利用和探索，寻找在成品率比较中获胜概率最大的设计点；采用多置信度建模方法对不同工艺参数标准差下的成品率进行建模，进一步提高汤普森采样获取函数的准确度。本方法能够大幅减少模拟电路成品率优化所需的仿真次数。

公开(公告)号：CN118798106A

公开(公告)日：2024-10-18

申请号：CN202210114313.4

申请日：2022-01-30

Applicant: 复旦大学

Inventor： 曾璇 ,  严昌浩 ,  杨帆 ,  周电 ,  余备 ,  马宇哲 ,  王孝东

IPC: G06F30/373 ,  G06F30/398

Abstract: 本发明属于集成电路可制造性设计技术领域。涉及集成电路可制造性设计中模拟电路成品率优化，具体涉及一种基于冻融贝叶斯优化技术的模拟电路成品率优化方法。本发明包括，提出在模拟电路成品率优化时，采用逐步提升候选最优设计点成品率分析精度的方法，利用冻融高斯过程回归模型对模拟电路成品率建模，预测渐进成品率。本方法中通过求解一个TT工艺角模拟电路性能优化问题，搜索刚好满足性能约束的设计点，并将这些点作为冻融贝叶斯优化热启动的初始点，可进一步提高成品率优化的收敛速度。经实验结果表明，本方法明显优于现有技术方法，能大幅减少模拟电路成品率优化所需仿真次数。