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公开(公告)号：CN1901371A
公开(公告)日：2007-01-24
申请号：CN200610029168.0
申请日：2006-07-20
Applicant: 复旦大学
IPC: H03K17/14 , H03K17/16 , H03K17/687 , G11C27/02
Abstract: 本发明属于集成电路技术领域，具体为一种具有高线性度的新型模拟开关。它由3个分压电阻、1个运算放大器、1个复制采样开关、1个采样开关、1个升压电路组成。由运算放大器和复制采样开关形成负反馈电路，为复制采样开关复制出与采样开关相同的阈值电压。将复制采样开关的栅电压经过升压电路后，作为采样开关的控制信号，以消除采样开关导通电阻随输入信号和阈值电压的变化，从而大大提高了采样开关的线性度。
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公开(公告)号：CN1901372A
公开(公告)日：2007-01-24
申请号：CN200610029169.5
申请日：2006-07-20
Applicant: 复旦大学
IPC: H03K17/14 , H03K17/16 , H03K17/687 , G11C27/02
Abstract: 本发明属集成电路技术领域，具体为一种适用于低电压的高线性度CMOS模拟采样开关。它由3个分压电阻、1个运算放大器、1个复制采样开关、1个采样开关、1个伪采样开关、2个升压电路组成。由运算放大器和复制采样开关形成负反馈电路，从而为复制采样开关复制出与采样开关相同的阈值电压。再将复制采样开关的栅电压作为采样开关的控制信号，以消除采样开关导通电阻随输入信号和阈值电压的变化，从而大大提高了采样开关的线性度。同时利用2个升压电路，消除了运放输出摆幅对电路功能的限制，实现了低电压下的正常工作。
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公开(公告)号：CN100557975C
公开(公告)日：2009-11-04
申请号：CN200610029169.5
申请日：2006-07-20
Applicant: 复旦大学
IPC: H03K17/14 , H03K17/16 , H03K17/687 , G11C27/02
Abstract: 本发明属集成电路技术领域，具体为一种适用于低电压的高线性度CMOS模拟采样开关。它由3个分压电阻、1个运算放大器、1个复制采样开关、1个采样开关、1个伪采样开关、2个升压电路组成。由运算放大器和复制采样开关形成负反馈电路，从而为复制采样开关复制出与采样开关相同的阈值电压。再将复制采样开关的栅电压作为采样开关的控制信号，以消除采样开关导通电阻随输入信号和阈值电压的变化，从而大大提高了采样开关的线性度。同时利用2个升压电路，消除了运放输出摆幅对电路功能的限制，实现了低电压下的正常工作。
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公开(公告)号：CN100521536C
公开(公告)日：2009-07-29
申请号：CN200610029168.0
申请日：2006-07-20
Applicant: 复旦大学
IPC: H03K17/14 , H03K17/16 , H03K17/687 , G11C27/02
Abstract: 本发明属于集成电路技术领域，具体为一种具有高线性度的新型模拟开关。它由3个分压电阻、1个运算放大器、1个复制采样开关、1个采样开关、1个升压电路组成。由运算放大器和复制采样开关形成负反馈电路，为复制采样开关复制出与采样开关相同的阈值电压。将复制采样开关的栅电压经过升压电路后，作为采样开关的控制信号，以消除采样开关导通电阻随输入信号和阈值电压的变化，从而大大提高了采样开关的线性度。
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