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公开(公告)号：CN113514429A
公开(公告)日：2021-10-19
申请号：CN202110249529.7
申请日：2021-03-08
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明属于超分辨显微成像技术领域，具体为一种DNA纳米结构标记细胞目的蛋白的荧光染色方法。其用链霉亲和素作中间物，将DNA纳米结构和修饰有生物素的目的蛋白的抗体连接在一起，从而标记目的蛋白；其中：所述DNA纳米结构上同时修饰有生物素、锚定在水凝胶上的基团和两个以上荧光染料分子。本发明的DNA纳米结构除修饰同一种染料时，其亮度非常高，得到的显微图片质量会大幅提高。当修饰STED超分辨显微技术优势染料时，则膨胀显微技术能够与STED超分辨技术很好地结合。当修饰荧光共振能量转移的染料对时，能使DNA纳米结构有闪烁的性质，使膨胀显微技术更加方便地与STORM和SOFI超分辨技术结合。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112444506B
公开(公告)日：2022-03-18
申请号：CN201910830344.8
申请日：2019-09-04
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于显微成像技术领域，具体为一种显微成像的方法及装置。显微成像的方法包括：用照明辐射照明样品，检测检测辐射；检测辐射由照明辐射照明样品引起；捕获至少一个第一图像，第一图像具有从样品发射的检测辐射的强度数据；由校正算法从所述至少一个第一图像中计算出第二图像；第二图像分辨率小于第一图像分辨率。显微成像的装置配置为能够执行所述方法。本发明可以获得更高分辨率的图像，并且能够适用于快速地动态超分辨显微成像。
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公开(公告)号：CN113658056B
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202110792583.6
申请日：2021-07-14
Applicant: 复旦大学
IPC: G06T5/70 , G06T5/80 , G06T5/90 , G06T3/4053
Abstract: 本发明公开了一种基于图像梯度方差分析的序列图像超分辨修正方法。本发明用于处理光学显微镜拍摄的荧光序列图像，图像的灰度值分布反映了荧光信号强度的分布，其随时间变化记录了时序波动特征。本发明首先分析序列图像两种信息：其一为，针对荧光强度分布，分析每个像素点自身荧光强度随时间变化的方差；其二为，计算荧光强度梯度场，并分析每个像素点的荧光强度梯度随时间变化的方差，然后用两种方差定义权重函数，对原始序列图像进行加权修正。最后对修正后图像序列进行SRRF分析，得到背景噪声小，伪影减弱，分辨能力增强的超分辨样品荧光图像。本方法适用性广泛，可以用于普通宽场、共聚焦成像，结构光照明成像等。
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公开(公告)号：CN113514429B
公开(公告)日：2022-11-18
申请号：CN202110249529.7
申请日：2021-03-08
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明属于超分辨显微成像技术领域，具体为一种DNA纳米结构标记细胞目的蛋白的荧光染色方法。其用链霉亲和素作中间物，将DNA纳米结构和修饰有生物素的目的蛋白的抗体连接在一起，从而标记目的蛋白；其中：所述DNA纳米结构上同时修饰有生物素、锚定在水凝胶上的基团和两个以上荧光染料分子。本发明的DNA纳米结构除修饰同一种染料时，其亮度非常高，得到的显微图片质量会大幅提高。当修饰STED超分辨显微技术优势染料时，则膨胀显微技术能够与STED超分辨技术很好地结合。当修饰荧光共振能量转移的染料对时，能使DNA纳米结构有闪烁的性质，使膨胀显微技术更加方便地与STORM和SOFI超分辨技术结合。
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公开(公告)号：CN113658056A
公开(公告)日：2021-11-16
申请号：CN202110792583.6
申请日：2021-07-14
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明公开了一种基于图像梯度方差分析的序列图像超分辨修正方法。本发明用于处理光学显微镜拍摄的荧光序列图像，图像的灰度值分布反映了荧光信号强度的分布，其随时间变化记录了时序波动特征。本发明首先分析序列图像两种信息：其一为，针对荧光强度分布，分析每个像素点自身荧光强度随时间变化的方差；其二为，计算荧光强度梯度场，并分析每个像素点的荧光强度梯度随时间变化的方差，然后用两种方差定义权重函数，对原始序列图像进行加权修正。最后对修正后图像序列进行SRRF分析，得到背景噪声小，伪影减弱，分辨能力增强的超分辨样品荧光图像。本方法适用性广泛，可以用于普通宽场、共聚焦成像，结构光照明成像等。
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公开(公告)号：CN112444506A
公开(公告)日：2021-03-05
申请号：CN201910830344.8
申请日：2019-09-04
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于显微成像技术领域，具体为一种显微成像的方法及装置。显微成像的方法包括：用照明辐射照明样品，检测检测辐射；检测辐射由照明辐射照明样品引起；捕获至少一个第一图像，第一图像具有从样品发射的检测辐射的强度数据；由校正算法从所述至少一个第一图像中计算出第二图像；第二图像分辨率小于第一图像分辨率。显微成像的装置配置为能够执行所述方法。本发明可以获得更高分辨率的图像，并且能够适用于快速地动态超分辨显微成像。
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