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公开(公告)号：CN114112928B
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202111413280.5
申请日：2021-11-25
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于非线性光学技术领域，具体为一种带有低温强磁场调控的非线性光学全参量表征系统。本发明系统包括主光路、低温样品腔、电机驱动机构和磁体；低温样品腔内设置有样品和反射式抛物面镜，主光路产生一束离轴入射光，光通过分光片进入低温样品腔，反射式抛物面镜将光以斜入射的形式聚焦到样品表面，出射的信号光被反射式抛物面镜收集变为平行光导出低温样品腔外，进入信号探测器；电机驱动机构驱动主光路中起偏器机构、相位掩膜版机构和检偏器机构等部件以入射光光轴为轴心进行旋转；低温样品腔放置于磁体内，样品的磁场环境受磁体控制。本发明实现了入射光的斜入射激发和信号光的斜出射探测，能够有效地实现非线性系数张量的全参量表征。
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公开(公告)号：CN114112928A
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN202111413280.5
申请日：2021-11-25
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于非线性光学技术领域，具体为一种带有低温强磁场调控的非线性光学全参量表征系统。本发明系统包括主光路、低温样品腔、电机驱动机构和磁体；低温样品腔内设置有样品和反射式抛物面镜，主光路产生一束离轴入射光，光通过分光片进入低温样品腔，反射式抛物面镜将光以斜入射的形式聚焦到样品表面，出射的信号光被反射式抛物面镜收集变为平行光导出低温样品腔外，进入信号探测器；电机驱动机构驱动主光路中起偏器机构、相位掩膜版机构和检偏器机构等部件以入射光光轴为轴心进行旋转；低温样品腔放置于磁体内，样品的磁场环境受磁体控制。本发明实现了入射光的斜入射激发和信号光的斜出射探测，能够有效地实现非线性系数张量的全参量表征。
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