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公开(公告)号:CN88201030U
公开(公告)日:1988-09-07
申请号:CN88201030
申请日:1988-01-28
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本实用新型属半导体压力传感器领域。其芯片结构特征为,在硅膜背面有由各向异性腐蚀形成的两个对称矩形硅岛,硅岛端面与器件衬底之间有一层间隙,硅膜正面相应于双岛之间的沟槽部位和岛与边框之间的沟槽部位设置力敏电阻,该组电阻联结成惠斯顿电桥。这种结构的压力传感器特点为灵敏度高,线性度好,并有过压保护功能,可广泛用于各种工业和医用测压系统,尤其是低压测量系统。
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