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公开(公告)号：CN119028798A
公开(公告)日：2024-11-26
申请号：CN202410630266.8
申请日：2024-05-21
Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
Abstract: 根据本发明，提供了一种用于校准飞行时间(ToF)质量分析仪的方法，该ToF质量分析仪包括离子注入装置和包括多个电极的离子镜。该方法包括：施加多个加速电压以使离子离开该离子注入装置以向该质量分析仪提供具有相应多个离子能量的离子；在每个离子能量处，通过将第一调谐参数改变为相应多个值，利用施加到该电极的多个电极电压集合来测量该质量分析仪的分辨力，其中该第一调谐参数使施加到该多个电极的该电极电压参数化；针对该多个离子能量中的每个离子能量确定该第一调谐参数的最大化值，在该最大化值处该分辨力被最大化；标识该第一调谐参数的该最大化值对该离子能量的依赖关系中的拐点；基于该拐点来确定该质量分析仪的校准操作参数集合，该校准操作参数集合包括校准电极电压集合；以及使该质量分析仪以该校准操作参数进行操作。还提供了一种被配置为执行该方法的ToF质量分析仪。还提供了一种用于使ToF质量分析仪执行该方法的计算机程序和计算机可读介质。
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公开(公告)号：CN116895515A
公开(公告)日：2023-10-17
申请号：CN202310310353.0
申请日：2023-03-28
Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
Abstract: 一种分析由离子分析仪生成的数据的方法，包括(i)接收由离子分析仪生成的数据片段，其中该数据片段包括与第一到达时间范围相关联的数据，以及(ii)对该数据片段应用滤波器，以产生该数据片段的经滤波版本。与该滤波器相关联的宽度被配置为取决于该离子分析仪针对该第一到达时间范围内的到达时间的预期离子到达时间分布的宽度。该方法还包括(iii)标识该数据片段的该经滤波版本中的一个或多个离子峰；并且然后(iv)确定该一个或多个所标识的离子峰中的每个离子峰的一个或多个特性。
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公开(公告)号：CN116031134A
公开(公告)日：2023-04-28
申请号：CN202211301849.3
申请日：2022-10-24
Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
Abstract: 提供一种用于校正从样本获得的质谱数据的方法。所述质谱数据是飞行时间质谱数据。所述方法包括接收从所述样本获得的所述质谱数据，所述质谱数据指示离子丰度。所述方法包括基于由所述质谱数据指示的所述离子丰度且基于与所述质谱数据相关联的一个或多个俘获参数而将校正函数应用于所述质谱数据，对于一系列离子丰度和一系列俘获参数，所述校正函数定义所述质谱数据的校正值。还提供一种用于确定质谱数据的校正函数的方法。
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公开(公告)号：CN118330011A
公开(公告)日：2024-07-12
申请号：CN202410027955.X
申请日：2024-01-09
Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
IPC: G01N27/623 , H01J49/42 , H01J49/40 , G01N27/622
Abstract: 本发明涉及一种分析仪器，该分析仪器包括第一滤质器和布置在该第一滤质器下游的滤质器。本发明还涉及一种操作该仪器的方法，该方法包括以第一操作模式操作该第一滤质器；在第一时间处将该第一滤质器切换到第二操作模式，在该第二操作模式下，该第一滤质器透射具有在不同的第二质荷比窗口内的质荷比的离子；以及在第二时间处开始在离子存储器中累积离子和/或开始采集离子的质谱数据。该方法还包括确定该第二质荷比与该第一m/z之间的差值是否小于阈值m/z差值。当确定小于时，将该延迟时间设置为第一延迟时间，并且当确定该第二m/z与该第一m/z之间的该差值大于该阈值m/z差值时，将该延迟时间设置为不同的第二延迟时间。
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公开(公告)号：CN116741617A
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202310239970.6
申请日：2023-03-06
Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
Abstract: 提供操作多反射飞行时间质量分析仪的方法，分析仪包括：在方向X上隔开且相对的离子镜，每个镜沿方向Y伸长，方向Y与方向X正交；将离子注入镜之间的空间的离子注入器；检测离子的检测器；接近第一端部的偏转器。方法包括：将离子注入镜之间的空间，离子完成第一循环，其中，离子沿Z字形离子路径，同时：从偏转器沿方向Y朝第二端部漂移，接近第二端部反转漂移方向速度，以及沿方向Y漂移到偏转器；使用偏转器来反转离子的漂移方向速度，使离子完成另外的循环，其中，离子沿Z字形离子路径，同时：从偏转器沿方向Y朝第二端部漂移，接近第二端部反转漂移方向速度，沿方向Y漂移到偏转器；重复以上步骤一次或多次；使离子从偏转器行进到检测器。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116124865A
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202211423789.2
申请日：2022-11-14
Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
Abstract: 本发明公开了用于表征质谱仪的隔离轮廓的方法和系统，所述方法包括获得由质谱仪传输的离子种类或至少一种离子种类的数据，从而形成所述质谱仪的隔离轮廓。对获得的数据进行归一化。向深度神经网络提供归一化的数据，所述深度神经网络是使用多个先前隔离轮廓进行训练。从所述深度神经网络生成曲线的一组拟合参数，所述曲线表示与所述归一化的数据的拟合。提供表示所述曲线的数据作为输出。所述方法也可以用作所述质谱仪的校准程序的一部分。
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公开(公告)号：CN115346853A
公开(公告)日：2022-11-15
申请号：CN202210518069.8
申请日：2022-05-12
Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
Abstract: 对在检测器电压下操作的离子检测器执行增益校准。产生单离子。通过在所述离子检测器处检测单离子来确定离子检测器的检测器输出与第一检测器电压的离子数目之间的第一关系的参数。使用所述第一检测器电压在所述离子检测器处检测离子峰，以基于所述第一关系的所述参数确定所述离子峰中的离子数目。调整所述检测器电压以减小所述检测器输出与噪声电平之间的比率，并由此获得第二检测器电压，在所述第二检测器电压下，所述离子峰的所述检测器输出保持高于所述噪声电平。基于所述离子峰中的所确定的离子数目，确定所述检测器输出与所述第二检测器电压的所述离子数目之间的第二关系的参数。
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公开(公告)号：CN118737805A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410342517.2
申请日：2024-03-25
Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
Abstract: 提供了一种校准飞行时间(TOF)质量分析器的方法。该方法包括使用TOF质量分析器执行校准物离子的多个校准分析。每个校准分析包括使用TOF质量分析器测量校准物离子的飞行时间，其中TOF质量分析器具有对校准物离子的飞行时间有影响的相关联的仪器参数。每个校准分析还包括基于校准物离子的已知质荷比和相应的飞行时间来确定用于TOF质量分析器的参考校准曲线，其中该参考校准曲线与用于相应的校准分析的TOF质量分析器的仪器参数相关联。对于多个校准分析中的每个校准分析，TOF质量分析器的仪器参数的值是不同的。该方法还包括确定在由TOF质量分析器执行的TOF质量分析中使用的校准曲线，其中该校准曲线是基于多个参考校准曲线和将在TOF质量分析中使用的TOF质量分析器的仪器参数确定的。
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公开(公告)号：CN117373892A
公开(公告)日：2024-01-09
申请号：CN202310834567.8
申请日：2023-07-07
Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
Abstract: 本发明公开了一种分析由质量分析仪生成的信号的方法，该方法包括：接收由该质量分析仪生成的信号；确定该信号中的一个或多个离子峰中的第一离子峰的面积；以及估计贡献于该第一离子峰的离子的数量。通过以下估计贡献于该第一离子峰的该离子的数量：根据校正函数确定要应用于该第一离子峰的该面积的校正，以及将该校正应用于该第一离子峰的该面积。该校正函数描述用于该质量分析仪的平均单个离子面积与离子质量、质荷比和/或电荷之间的关系。
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公开(公告)号：CN116741616A
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202310210632.X
申请日：2023-03-06
Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
Abstract: 提供操作分析仪器的方法，分析仪器包括离子分析仪，确定离子沿离子路径的漂移时间，离子路径包括第一区段和循环区段，离子路径使离子单次穿越第一区段并一次或多次穿越循环区段。方法包括：在第一模式中：沿第一区段提供第一电位，沿循环区段提供第二电位，第一区段具有第一路径长度，循环区段具有第二路径长度，通过确定漂移时间来分析离子以获得第一组离子数据；通过改变第一电位、第二电位、第一路径长度和第二路径长度中的至少一者在第二模式中操作，通过确定漂移时间来分析离子以获得第二组离子数据；比较第一和第二组离子数据，标识第一组离子数据中的第一离子峰，基于比较确定离子的穿越次数；使用穿越次数确定离子的物理化学性质。
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