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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110488171A
公开(公告)日：2019-11-22
申请号：CN201910384079.5
申请日：2019-05-09
Applicant: 基思利仪器有限责任公司
IPC: G01R31/26
Abstract: 一种测试环境包括：第一测量单元，连接到MOSFET设备的栅极；以及第二测量单元，连接到所述MOSFET设备的漏极。所述测试环境对于测试针对MOSFET设备的栅极电荷而言特别有用。在第一阶段中，利用电流驱动设备的栅极，同时利用恒定电压驱动漏极。随着所述MOSFET设备接通，所述第二测量单元从提供所述恒定电压切换到提供恒定电流到MOSFET的漏极，同时测量漏电压。模式的切换是自动的，且在没有用户干预的情况下发生。在所述MOSFET设备已经被栅电流驱动到VgsMax之后，所有相关数据被存储，可以分析该所有相关数据并在用户界面中将该所有相关数据呈现给用户，或者以其他方式呈现该所有相关数据。
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公开(公告)号：CN109298215A
公开(公告)日：2019-02-01
申请号：CN201810825434.3
申请日：2018-07-25
Applicant: 基思利仪器有限责任公司
IPC: G01R1/073
Abstract: 公开了用于测试集成电路的探针卡系统。一种用于测试集成电路晶片的系统，该系统包括具有探针尖针和包围压力室的探针主体的探针卡。探针主体包括一体式侧壁，除了第一端盖中的出口通道之外实质上封闭探针主体的第一端的第一端盖，以及被配置成将压缩气体引入到压力室内的入口通道。探针尖针是在压力室中并且被探针主体支承。探针尖针的自由端延伸通过出口通道。探针尖针的各端被探针尖针中的第一弯曲部分离，第一弯曲部具有位于探针尖针与一体式侧壁的纵向中心线之间的曲率中心。还公开了使用探针卡的方法。
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公开(公告)号：CN110488171B
公开(公告)日：2024-12-13
申请号：CN201910384079.5
申请日：2019-05-09
Applicant: 基思利仪器有限责任公司
IPC: G01R31/26
Abstract: 一种测试环境包括：第一测量单元，连接到MOSFET设备的栅极；以及第二测量单元，连接到所述MOSFET设备的漏极。所述测试环境对于测试针对MOSFET设备的栅极电荷而言特别有用。在第一阶段中，利用电流驱动设备的栅极，同时利用恒定电压驱动漏极。随着所述MOSFET设备接通，所述第二测量单元从提供所述恒定电压切换到提供恒定电流到MOSFET的漏极，同时测量漏电压。模式的切换是自动的，且在没有用户干预的情况下发生。在所述MOSFET设备已经被栅电流驱动到VgsMax之后，所有相关数据被存储，可以分析该所有相关数据并在用户界面中将该所有相关数据呈现给用户，或者以其他方式呈现该所有相关数据。
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公开(公告)号：CN109298215B
公开(公告)日：2023-01-03
申请号：CN201810825434.3
申请日：2018-07-25
Applicant: 基思利仪器有限责任公司
IPC: G01R1/073
Abstract: 公开了用于测试集成电路的探针卡系统。一种用于测试集成电路晶片的系统，该系统包括具有探针尖针和包围压力室的探针主体的探针卡。探针主体包括一体式侧壁，除了第一端盖中的出口通道之外实质上封闭探针主体的第一端的第一端盖，以及被配置成将压缩气体引入到压力室内的入口通道。探针尖针是在压力室中并且被探针主体支承。探针尖针的自由端延伸通过出口通道。探针尖针的各端被探针尖针中的第一弯曲部分离，第一弯曲部具有位于探针尖针与一体式侧壁的纵向中心线之间的曲率中心。还公开了使用探针卡的方法。
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公开(公告)号：CN109427608A
公开(公告)日：2019-03-05
申请号：CN201810972854.4
申请日：2018-08-24
Applicant: 基思利仪器有限责任公司
IPC: H01L21/66
CPC classification number: G01R1/06783 , B05C5/0225 , B05C5/0237 , B05C5/0287 , B05C11/1002 , B05C11/1047 , G01R31/2831 , H01L22/14
Abstract: 公开了具有电介质流体分配器的探针卡系统。一种用于测试集成电路晶片的系统包括探针卡和分配器组件。探针卡包括电路板和耦合到电路板的探针尖针。分配器组件被耦合到探针卡并且被配置为将经计量的量的电介质流体递送到探针尖针的尖端。还公开了方法。
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