公开(公告)号：CN103718377A

公开(公告)日：2014-04-09

申请号：CN201280037941.1

申请日：2012-07-11

Applicant: 国际商业机器公司

Inventor： A·巴巴卡尼 ,  刘兑现 ,  S·K·雷诺兹 ,  M·A·桑度莱努

IPC: H01Q3/00

CPC classification number: G01S13/89 ,  H01Q1/2283 ,  H01Q7/00 ,  H01Q21/061

Abstract: 提供了用于近场毫米波成像的系统和方法，具体而言，提供了通过使用子波长探针元件扫描物体并捕捉和测量反射能的相位和强度以产生图像来实现子波长分辨率成像的近场毫米波成像系统和方法。

公开(公告)号：CN103718377B

公开(公告)日：2016-05-18

申请号：CN201280037941.1

申请日：2012-07-11

Applicant: 国际商业机器公司

Inventor： A·巴巴卡尼 ,  刘兑现 ,  S·K·雷诺兹 ,  M·A·桑度莱努

IPC: H01Q3/00

CPC classification number: G01S13/89 ,  H01Q1/2283 ,  H01Q7/00 ,  H01Q21/061

Abstract: 提供了用于近场毫米波成像的系统和方法，具体而言，提供了通过使用子波长探针元件扫描物体并捕捉和测量反射能的相位和强度以产生图像来实现子波长分辨率成像的近场毫米波成像系统和方法。