测试电路中的多个模块的测试方法和测试设备

    公开(公告)号:CN105629148B

    公开(公告)日:2018-08-28

    申请号:CN201410586635.4

    申请日:2014-10-28

    Abstract: 本发明公开了一种用于测试电路中的多个模块的测试设备和测试方法,所述多个模块具有相同的结构。所述测试设备包括:比较装置,被配置为收集通过将激励信号并行施加于所述多个模块而由所述多个模块产生的输出响应,比较所述多个模块的输出响应以确定所述多个模块的输出响应是否相同,并且输出指示该比较装置的比较结果的信号;以及确定装置,被配置为接收所述信号,并且根据该比较装置的比较结果来确定所述多个模块是否具有缺陷。利用所述测试设备和测试方法,可以简化对于所述多个具有相同结构的模块的测试过程,提高测试效率。

    扭斜检测方法和设备及高速光通信接口

    公开(公告)号:CN101902271A

    公开(公告)日:2010-12-01

    申请号:CN200910141313.8

    申请日:2009-05-31

    CPC classification number: H04B10/0795

    Abstract: 公开了对数据通道上传输的数据进行扭斜检测的方法、设备及包括该设备的高速光通信接口。其中,参考通道上的参考帧数据由每一个要进行扭斜检测的数据通道上的Umax长的参考数据段顺序地构成。该方法包括:S1)对于一个数据通道上在一帧时间内传输的一帧数据:a)依据最大可允许扭斜检测范围Rmax将一帧数据分为多个数据块;b)将各数据块分段为多个Umax长的段;c)分别将各数据块中的每个段和对应的参考数据段进行串行比较,得到各数据块中所有段的扭斜检测结果;d)对于每个数据块,选择该数据块中的所有段之一的扭斜检测结果作为该数据块的扭斜检测结果;和S2)选择所有数据块的扭斜检测结果中偏移最大的扭斜检测结果作为该帧数据的扭斜检测结果。

    测试电路中的多个模块的测试方法和测试设备

    公开(公告)号:CN105629148A

    公开(公告)日:2016-06-01

    申请号:CN201410586635.4

    申请日:2014-10-28

    Abstract: 本发明公开了一种用于测试电路中的多个模块的测试设备和测试方法,所述多个模块具有相同的结构。所述测试设备包括:比较装置,被配置为收集通过将激励信号并行施加于所述多个模块而由所述多个模块产生的输出响应,比较所述多个模块的输出响应以确定所述多个模块的输出响应是否相同,并且输出指示该比较装置的比较结果的信号;以及确定装置,被配置为接收所述信号,并且根据该比较装置的比较结果来确定所述多个模块是否具有缺陷。利用所述测试设备和测试方法,可以简化对于所述多个具有相同结构的模块的测试过程,提高测试效率。

    扭斜检测方法和设备及高速光通信接口

    公开(公告)号:CN101902271B

    公开(公告)日:2013-03-06

    申请号:CN200910141313.8

    申请日:2009-05-31

    CPC classification number: H04B10/0795

    Abstract: 公开了对数据通道上传输的数据进行扭斜检测的方法、设备及包括该设备的高速光通信接口。其中,参考通道上的参考帧数据由每一个要进行扭斜检测的数据通道上的Umax长的参考数据段顺序地构成。该方法包括:S1)对于一个数据通道上在一帧时间内传输的一帧数据:a)依据最大可允许扭斜检测范围Rmax将一帧数据分为多个数据块;b)将各数据块分段为多个Umax长的段;c)分别将各数据块中的每个段和对应的参考数据段进行串行比较,得到各数据块中所有段的扭斜检测结果;d)对于每个数据块,选择该数据块中的所有段之一的扭斜检测结果作为该数据块的扭斜检测结果;和S2)选择所有数据块的扭斜检测结果中偏移最大的扭斜检测结果作为该帧数据的扭斜检测结果。

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