一种紫外成像仪带外抑制能力的检测系统及方法

    公开(公告)号:CN110926762B

    公开(公告)日:2021-08-27

    申请号:CN201911157148.5

    申请日:2019-11-22

    Abstract: 本发明公开了一种紫外成像仪带外抑制能力的检测系统及方法。本发明的检测系统,其包括光源、积分球、光功率计和计算控制系统;所述的积分球设有一个入光口和两个出光口,所述的入光口与光源连接,一个出光口用于与待测设备连接,另一个出光口与光功率计连接;所述的计算控制系统,其包括光源控制单元,光功率计数据采集、处理、显示单元和校验处理单元;所述的校验处理单元,通过分析待测设备光子数和光功率计的数据,选择光子数评价标准,评估待测设备的带外抑制能力。本发明检测系统构造简单,对检测环境要求低,对检测人员要求低,便于广泛普及应用。

    一种多光谱紫外成像光学性能检测系统和检测方法

    公开(公告)号:CN109799072A

    公开(公告)日:2019-05-24

    申请号:CN201910068951.5

    申请日:2019-01-24

    Abstract: 本发明公开了一种多光谱紫外成像光学性能检测系统和检测方法。目前尚未有成熟的关于双光路、多光谱光学系统光学性能检测的设备和方法。本发明的一种多光谱紫外成像光学性能检测系统,包括一个多谱段光源、一个平行光管和一个多维度转台,所述的多谱段光源包含紫外、可见和红外波段的光;所述的平行光管内部采用折返式光学系统,用于实现折返式光路,所述的折返式光学系统包括位于平行光管内部两侧的多面曲率不同反光镜,多谱段光源发出的光线进入平行光管内,经折返式光路后平行射出;所述的多维度转台置于平行光管前端,实现多维度转动。本发明可在同一系统中实现多光谱光学系统的光学性能检测,为多光谱光学系统性能检测提供方案。

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