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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109073570B
公开(公告)日：2020-11-06
申请号：CN201780017067.8
申请日：2017-02-20
Applicant: 国立大学法人东北大学 , 株式会社理学
IPC: G01N23/041 , A61B6/00 , A61B6/06
Abstract: 获取强度分布图像(10)的第1关注区域(101)中的第1ROI像素值和第2关注区域(102)中的第2ROI像素值。在第1和第2的关注区域的其中一方相对于另一方，被设定在强度分布图像中的强度调制的周期中相位差为π/2的位置或者其附近。接着，决定将第1和第2ROI像素值按每个强度分布图像进行绘制而得到的椭圆轨迹。接着，使用按每个规定角度分割椭圆轨迹而得到的至少k个角度区域所对应的强度分布图像来获取k张角度区域图像。接着，使用k张角度区域图像来生成放射线图像。在这里，k为3以上的整数。
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公开(公告)号：CN109073570A
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201780017067.8
申请日：2017-02-20
Applicant: 国立大学法人东北大学 , 株式会社理学
Abstract: 获取强度分布图像(10)的第1关注区域(101)中的第1ROI像素值和第2关注区域(102)中的第2ROI像素值。在第1和第2的关注区域的其中一方相对于另一方，被设定在强度分布图像中的强度调制的周期中相位差为π/2的位置或者其附近。接着，决定将第1和第2ROI像素值按每个强度分布图像进行绘制而得到的椭圆轨迹。接着，使用按每个规定角度分割椭圆轨迹而得到的至少k个角度区域所对应的强度分布图像来获取k张角度区域图像。接着，使用k张角度区域图像来生成放射线图像。在这里，k为3以上的整数。
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公开(公告)号：CN105637351A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201480056220.4
申请日：2014-10-30
Applicant: 国立大学法人东北大学
Inventor： 百生敦
IPC: G01N23/20
CPC classification number: G01N23/20075 , A61B6/4035 , A61B6/4291 , A61B6/484 , G21K1/06 , G21K2207/005
Abstract: 本发明提供能够对移动的被检体进行精密的非破坏检查的技术。放射线源1向栅格G0～G2放射放射线。各栅格G0～G2具备多个栅格构件。放射线检测器3对通过多个栅格构件而衍射的放射线进行检测。多个栅格构件具有预定的相位差而配置，以使由通过了第一～第三部分区域71～73的放射线分别形成的莫尔花纹图像具有莫尔花纹图像相互之间的相位差。
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公开(公告)号：CN108449980A
公开(公告)日：2018-08-24
申请号：CN201680049835.3
申请日：2016-08-19
IPC: G01N23/041 , G01N23/20 , A61B6/00
Abstract: 在使用利用了X线等的波动性进行高灵敏度放射线摄影的光栅的装置中，本发明提供可拍摄对装置相对移动的试件的技术。像素值运算单元(51)使用在与放射线的路径交叉方向上移动的试件(10)的多个强度分布图像，判定试件上的点(p，q)是否属于各强度分布图像上的区域(Ak)。而且，像素值运算单元(51)通过将属于各区域(Ak)的点(p，q)中的各强度分布图像上的像素值相加在一起，求各区域(Ak)中的合计像素值(Jk)。图像运算单元(52)使用区域(Ak)中的合计像素值(Jk)，生成需要的放射线图像。
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公开(公告)号：CN108449980B
公开(公告)日：2020-09-22
申请号：CN201680049835.3
申请日：2016-08-19
IPC: G01N23/041 , G01N23/20 , G01N23/20008 , A61B6/00
Abstract: 在使用利用了X线等的波动性进行高灵敏度放射线摄影的光栅的装置中，本发明提供可拍摄对装置相对移动的试件的技术。像素值运算单元(51)使用在与放射线的路径交叉方向上移动的试件(10)的多个强度分布图像，判定试件上的点(p，q)是否属于各强度分布图像上的区域(Ak)。而且，像素值运算单元(51)通过将属于各区域(Ak)的点(p，q)中的各强度分布图像上的像素值相加在一起，求各区域(Ak)中的合计像素值(Jk)。图像运算单元(52)使用区域(Ak)中的合计像素值(Jk)，生成需要的放射线图像。
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