-
公开(公告)号：CN115495385A
公开(公告)日：2022-12-20
申请号：CN202211320726.4
申请日：2022-10-26
Applicant: 国核自仪系统工程有限公司
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明公开了一种软件开发质量的评价方法、系统、电子设备及介质，该方法包括：获取第N轮次的异常软件的责任性异常总数量以及剩余责任性异常数量；基于剩余责任性异常数量以及责任性异常总数量计算剩余责任性异常数量百分比；基于该百分比计算第N轮次的异常消缺直通率；基于异常消缺直通率评价第N轮次的软件开发质量。本发明基于第N轮次的责任性异常总数量以及剩余责任性异常数量计算剩余责任性异常数量百分比，并基于剩余责任性异常数量百分比计算第N轮次的异常消缺直通率，基于异常消缺直通率评价该轮次的软件开发质量，能够伴随软件开发过程，直观可靠的评估不同轮次的软件开发质量，提高了软件开发质量评价效率以及评价的准确性。
-
公开(公告)号：CN118330431A
公开(公告)日：2024-07-12
申请号：CN202410469971.4
申请日：2024-04-18
Applicant: 山东核电有限公司 , 国核自仪系统工程有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种故障元器件确定方法、装置、设备以及存储介质，属于故障激发技术领域，所述方法包括：采用温度试验环境下的试验温度信息，对目标电路板进行高低温交替应力试验，得到目标电路板的工作极限温度和第一故障元件；在确定电压试验环境满足电压试验条件的情况下，根据目标电路板的电路额定电压，对目标电路板进行电压应力试验，得到目标电路板的工作极限电压和第二故障元器件；电压试验条件包括电压试验温度和电压试验湿度；根据工作极限温度、工作极限电压、电路额定电压和电压试验湿度，对目标电路板进行综合应力试验，得到第三故障元器件；根据第一故障元器件、第二故障元器件和第三故障元器件，确定目标电路板中的目标故障元器件。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117367773A
公开(公告)日：2024-01-09
申请号：CN202311316230.4
申请日：2023-10-11
Applicant: 国核自仪系统工程有限公司
Abstract: 本公开提供了一种滤除应力干扰的试验方法、系统、设备及介质，该试验方法包括：根据加速试验的试验目的，预设加速试验的主要应力；根据主要应力，确定由主要应力产生的附加应力；判断附加应力是否会对试验目的产生干扰；若是，则获取削弱附加应力的目标应力；对试验对象施加主要应力和目标应力，以进行加速试验。本公开通过判断试验中由主要应力产生的附加应力是否会对试验目的产生影响，在会产生影响的情况下，利用附加应力对应的不产生加速效应、或产生弱加速效应的目标应力，来滤除附加应力的干扰，以控制加速试验中应力的种类和数量，保证主要应力与试验目的之间的量化关系，提高了试验结果准确性、降低了试验的复杂性、节约了时间成本。
-
公开(公告)号：CN115495931A
公开(公告)日：2022-12-20
申请号：CN202211319998.2
申请日：2022-10-26
Applicant: 国核自仪系统工程有限公司
IPC: G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本发明公开了一种仪控系统可靠性的分析方法、装置、电子设备和存储介质，该分析方法包括：基于仪控系统的工作剖面，构建可靠性框图模型；基于可靠性框图模型，构建对应的可靠性数学模型；基于可靠性数学模型，计算得到目标可用率；基于目标可用率，分析得到仪控系统的可靠性。本发明通过构建可靠性框图模型和可靠性数学模型来进行仪控系统可靠性定量分析中的可用率分析，解决了现有技术只针对系统层级的可用率分析，不能结合系统设计深入到系统内部的单元模块，存在可用率计算简单，计算结果不能准确反映仪控系统的可靠性，导致仪控系统的监测需求不能良好满足等问题，有效地提高了仪控系统可靠性分析的准确性。
-
公开(公告)号：CN119558081A
公开(公告)日：2025-03-04
申请号：CN202411742500.2
申请日：2024-11-29
Applicant: 上海核工程研究设计院股份有限公司 , 国核自仪系统工程有限公司
IPC: G06F30/20 , G06F119/02 , G06F111/08
Abstract: 本公开提供了仪控卡件的故障缓解设计方法、系统、设备、存储介质，所述故障缓解设计方法，包括：获取所述仪控卡件的初始模型；对所述初始模型进行失效模式与影响分析，以确定所述初始模型中的目标元件；针对所述目标元件进行故障缓解设计，并将经过故障缓解设计后的初始模型作为目标模型。本公开不仅提高卡件可靠性和可用性，也降低卡件故障发生的概率和对功能影响的程度。
-
公开(公告)号：CN116720383A
公开(公告)日：2023-09-08
申请号：CN202310851069.4
申请日：2023-07-11
Applicant: 国核自仪系统工程有限公司
IPC: G06F30/20 , G06F119/04
Abstract: 本发明公开了一种电子装置的寿命评估方法、系统、电子装置及存储介质，该寿命评估方法包括：从电子装置中的元件中确定至少一个目标元件；获取所述目标元件的寿命信息；根据所述寿命信息评估所述电子装置的寿命。本发明根据电子装置的目标元件的寿命分布评估电子装置的寿命，不再需要对完整的电子装置进行寿命评估试验，例如加速老化试验和/或加速寿命试验，降低了试验成本，提升了试验效率。
-
公开(公告)号：CN115686898A
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202211204207.1
申请日：2022-09-29
Applicant: 国核自仪系统工程有限公司
IPC: G06F11/07
Abstract: 本发明公开了一种多级故障模式与影响分析方法、系统。所述方法包括获取多级FMEA关系，根据多级FMEA关系确定对待分析目标所属顶层目标的故障影响或故障原因。从而使得任意一个多级FMEA关系中都可以获取待分析目标的故障影响或故障原因，设计人员可跨层级进行危害分析，对设计优先级进行合理决策。
-
-
-
-
-
-
Search Results
7
records
(took 0.027 seconds)
