公开(公告)号：CN114660172A

公开(公告)日：2022-06-24

申请号：CN202111355029.8

申请日：2021-11-16

Applicant: 国标(北京)检验认证有限公司 ,  北京工业大学

Inventor： 高东林 ,  张伦兆 ,  王慧园 ,  解东 ,  宋国荣 ,  吕炎

IPC: G01N29/04 ,  G01N29/06

Abstract: 本发明公开了一种针对复杂曲面工件缺陷的透射式超声波成像方法，属于无损检测领域。首先获取复杂曲面工件外形尺寸，对其进行检测路径规划，保证扫查过程中，探头与工件垂直；然后在工件进行超声检测，并接收超声脉冲透射回波信号，储存超声波激励时的工件扫查点位的坐标信息；将若干扫查点进行曲面拟合，构建成像曲面，将包含超声数据的透射波信号与曲面对应成像，得到三维C扫图像。本发明优化了复杂曲面缺陷的成像效果，避免了缺陷形状的扭曲与错位现象，将缺陷的坐标信息与超声扫查数据建立映射关系进行成像。

公开(公告)号：CN116242857A

公开(公告)日：2023-06-09

申请号：CN202310082654.2

申请日：2023-02-08

Applicant: 国标(北京)检验认证有限公司 ,  国合通用测试评价认证股份公司

Inventor： 高东林 ,  肖婷 ,  白万通 ,  张伦兆 ,  董海江 ,  聂新宇 ,  袁博

IPC: G01N23/046 ,  G01N23/18

Abstract: 本发明公开了属于无损检测技术领域，特别涉及一种微焦点工业CT检测用夹杂物参考试块及其检测方法。所述夹杂物参考试块包括试块基体和夹杂物；试块基体能够满足夹杂物承载条件，与夹杂物的材料存在明显的穿透能力差异；能够实现夹杂物的分散与固定；能够实现夹杂物的检出以及尺寸检测；夹杂物的材料为球形粉末状材料，能够通过显微镜测量得到夹杂物的实际尺寸。在微焦点工业CT检测过程中，使用该夹杂物参考试块，能够找到检测分辨力与检测尺寸间的关系，实现某一分辨力下检测对象中不同尺寸缺陷检出概率、检测精度的有效性评估，从而实现微米级夹杂物缺陷尺寸的正确测量及输出。

公开(公告)号：CN222144909U

公开(公告)日：2024-12-10

申请号：CN202420412413.X

申请日：2024-03-05

Applicant: 国标(北京)检验认证有限公司

Inventor： 张越颖 ,  向雪梅 ,  徐乾坤 ,  张飞飞 ,  高东林 ,  张恒磊 ,  杨中元

IPC: G01N23/18

Abstract: 本实用新型属于工业CT扫描设备技术领域，特别涉及一种工业CT用标准拉伸试样测试夹具，包括：底部承载盘和定位支撑系统；其定位支撑系统包括：底部支撑环、顶部支撑环、定位支撑柱、定位螺栓以及垫片；底部承载盘上表面垂直固定有至少3个定位支撑柱；定位支撑柱上设有多个定位支撑柱贯通螺纹孔，支撑环上均匀设有的多个支撑环贯通螺纹孔；定位螺栓由外向内依次与支撑环贯通螺纹孔和定位支撑柱贯通螺纹孔通过螺纹配合；定位螺栓的内端通过转动连接安装有垫片。测试夹具能够快速夹紧各类标准拉伸试样，保证周向旋转过程中不发生摇晃松动，对于尺寸、重量较大的样品及复杂形状样品具有良好的适用性。