一种循环冗余校验方法和装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114124291A

    公开(公告)日:2022-03-01

    申请号:CN202010868867.4

    申请日:2020-08-25

    Inventor: 李西昆 樊震

    Abstract: 本发明公开了一种循环冗余校验方法和装置,该方法包括:获取待处理的数据报文;获取所述待处理的数据报文的有效字节和无效字节,将所述无效字节填充为0;设置CRC32_D512算法模块;输入所述有效字节到所述CRC32_D512算法模块;基于所述CRC32_D512算法模块计算得到第一CRC结果;设置反推导crc32_rollback模块;输入所述第一CRC结果至所述反推导crc32_rollback模块;基于所述反推导crc32_rollback模块反推得到第二CRC结果;基于所述有效字节的字节数和所述第二CRC结果,选择获取第三CRC结果。本发明在不需要额外添加算法模块的前提下,实现大位宽数据CRC(循环冗余校验)计算,且不额外占用系统资源,不会影响整体系统性能,易于实现。

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