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公开(公告)号:CN105277815B
公开(公告)日:2017-11-21
申请号:CN201410334115.4
申请日:2014-07-14
Applicant: 国家电网公司 , 北京南瑞智芯微电子科技有限公司
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种检测抗磁性的设备,该设备包括承载被检测设备的检测台,测量被检测设备的抗磁角度的第一角度刻度盘,测量被检测设备的抗磁性和抗磁距离的检测头,为所述检测台提供支撑的支架;所述第一角度刻度盘为圆环形,在所述第一角度刻度盘的圆环上设置有可在所述圆环上滑动的检测头;所述检测台的两端沿着所述第一角度刻度盘的直径方向穿过所述第一角度刻度盘的圆环后分别与所述支架连接。
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公开(公告)号:CN105277815A
公开(公告)日:2016-01-27
申请号:CN201410334115.4
申请日:2014-07-14
Applicant: 国家电网公司 , 北京南瑞智芯微电子科技有限公司
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种检测抗磁性的设备,该设备包括承载被检测设备的检测台,测量被检测设备的抗磁角度的第一角度刻度盘,测量被检测设备的抗磁性和抗磁距离的检测头,为所述检测台提供支撑的支架;所述第一角度刻度盘为圆环形,在所述第一角度刻度盘的圆环上设置有可在所述圆环上滑动的检测头;所述检测台的两端沿着所述第一角度刻度盘的直径方向穿过所述第一角度刻度盘的圆环后分别与所述支架连接。
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