纳米红外信号优化总模型构建方法及检测方法、装置

    公开(公告)号:CN118607283A

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202410636081.8

    申请日:2024-05-22

    Abstract: 本申请提供了一种纳米红外信号优化总模型构建方法及检测方法、装置,该方法包括:根据样品所在环境与设定照明光路,构建局部电磁场模型;其中,局部电磁场模型通过二维轴对称结构计算得到;针对样品产生的多种光力分别建立相应的光力子模型,并通过多个光力子模型形成多物理场耦合模型;以MLP网络为基础架构进行模型训练,得到深度神经网络模型;以局部电磁场模型、多物理场耦合模型以及深度神经网络模型共同构成纳米红外信号优化总模型。本申请通过在纳米红外信号优化总模型中设置局部电磁场模型、多物理耦合模型以及深度神经网络模型,可以系统性地提升样品检测的性能,提高纳米红外系统的检测灵敏度。

    获取纳米材料的红外、电学和力学的成像装置及方法

    公开(公告)号:CN116819127A

    公开(公告)日:2023-09-29

    申请号:CN202310564542.0

    申请日:2023-05-18

    Abstract: 本发明涉及材料表征的技术领域,具体涉及一种获取纳米材料的红外、电学和力学的成像装置,包括原子力显微镜,原子力显微镜具有探针和样品放置区;还包括用以发射红外光源的光源发生器,红外光源照射至样品放置区;样品放置区上设有第一导电件,第一导电件与外部的供电端电连接为样品施加电压,探针通过第二导电件与样品上的电压进行导通;探针获取样品的待测区域上的电流信号和偏折信号;成像装置上的分析模块对电流信号和偏折信号进行分析,以获取样品的待测区域上的红外成像、电学成像和力学成像。采用本发明的成像装置,可以获取样品表面的多模态成像,以优化样品性能的检测步骤,提高样品性能检测的准确率。

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