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发明公开
一种AMOLED显示屏缺陷检测方法、系统及存储介质无效

公开(公告)号：CN108986069A

公开(公告)日：2018-12-11

申请号：CN201810540217.X

申请日：2018-05-30

Applicant: 哈尔滨工业大学深圳研究生院

Inventor： 肖君军 , 孙玉凤

IPC: G06T7/00 , G01N21/88

Abstract: 本发明提供了一种AMOLED显示屏缺陷检测方法、系统及存储介质，该检测方法包括：子图像灰度级差值步骤：采集AMOLED显示屏含缺陷图像并进行预处理，找到缺陷的大致位置的轮廓曲线；RSF模型步骤：将子图像灰度级差值步骤得到的AMOLED显示屏缺陷的大致位置的轮廓作为RSF模型步骤中所需要的初始轮廓曲线，然后再采用RSF模型方法对图像的缺陷进行精准的检测。本发明在AMOLED显示屏检测时，在常用方法RSF模型的基础上结合了子图像灰度级差值方法对缺陷进行定位并求取其大致轮廓，解决了RSF模型对初始轮廓敏感的问题、提高了最终检测的速度、解决了全局图像模型有时不能处理灰度不均图像的问题。

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