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公开(公告)号:CN107490340B
公开(公告)日:2019-08-09
申请号:CN201710587012.2
申请日:2017-07-18
Applicant: 哈尔滨工业大学深圳研究生院
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明提供了一种三幅随机移相干涉图的快速相位提取方法,包括以下步骤:S1、采集三幅随机干涉图;S2、对采集到的随机干涉图进行两两相减运算;S3、对随机干涉图再进行一次相加或者相减运算;S4、将化简得到的椭圆公式进行归一化处理,进行超最小二乘椭圆拟合求解椭圆参数;S5、求解出相位。本发明的有益效果是:首先通过两步加减运算推导出椭圆参数公式,可以减弱甚至消除背景光强带来的影响,再利用超最小二乘椭圆拟合出椭圆参数,通过这些椭圆参数就可以直接计算出相位,不受干涉图中条纹限制,可以从三幅随机移相干涉图中高精度、快速提取相位。
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公开(公告)号:CN107796301A
公开(公告)日:2018-03-13
申请号:CN201710851113.6
申请日:2017-09-20
Applicant: 哈尔滨工业大学深圳研究生院
IPC: G01B9/02
CPC classification number: G01B9/02085 , G01B9/02075
Abstract: 本发明提供了一种基于施密特正交化和最小二乘椭圆拟合的相位提取方法,包括以下步骤:S1、采集三幅随机干涉图,对三幅随机干涉图进行减法运算,消除背景光强的主流分量;S2、对差分干涉图进行施密特正交化(GS)处理,消除移相偏差;S3、分析差分干涉图存在的误差,并推导出一般椭圆公式;S4、通过最小二乘椭圆拟合快速求解出椭圆参数;S5、根据椭圆参数求解出相位信息。本发明的有益效果是:考虑到了由于外界环境干扰引起的背景光强扰动带来的影响,通过最小二乘椭圆拟合提高了精度,适用范围广。
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公开(公告)号:CN107490340A
公开(公告)日:2017-12-19
申请号:CN201710587012.2
申请日:2017-07-18
Applicant: 哈尔滨工业大学深圳研究生院
IPC: G01B11/00
CPC classification number: G01B11/00
Abstract: 本发明提供了一种三幅随机移相干涉图的快速相位提取方法,包括以下步骤:S1、采集三幅随机干涉图;S2、对采集到的随机干涉图进行两两相减运算;S3、对随机干涉图再进行一次相加或者相减运算;S4、将化简得到的椭圆公式进行归一化处理,进行超最小二乘椭圆拟合求解椭圆参数;S5、求解出相位。本发明的有益效果是:首先通过两步加减运算推导出椭圆参数公式,可以减弱甚至消除背景光强带来的影响,再利用超最小二乘椭圆拟合出椭圆参数,通过这些椭圆参数就可以直接计算出相位,不受干涉图中条纹限制,可以从三幅随机移相干涉图中高精度、快速提取相位。
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