一种跨尺度结构特征表面的最优切削方向的选择方法

    公开(公告)号:CN118106561A

    公开(公告)日:2024-05-31

    申请号:CN202410280309.4

    申请日:2024-03-12

    Inventor: 杨洋 文健

    Abstract: 本发明公开了一种跨尺度结构特征表面的最优切削方向的选择方法,通过改变名义切削方向来改变目标跨尺度结构特征表面的截面轮廓的频谱成分,从而改变可加工跨尺度结构特征表面与目标跨尺度结构特征表面之间的误差。在名义切削方向选择范围内,以ξα为角度分辨率进行改变名义切削方向,并计算获得所有名义切削方向下的可加工跨尺度结构特征表面与目标跨尺度结构特征表面之间的平均整体相对误差,选择平均整体相对误差最小的名义切削方向作为跨尺度结构特征表面的最优切削方向,从而能够减小切削加工时可加工跨尺度结构特征表面与目标跨尺度结构特征表面之间的误差,进而减小最终加工的跨尺度结构特征表面与给定的跨尺度结构特征表面之间的误差,提高加工精度。

    一种基于跨尺度结构的高清结构色图像的复刻方法

    公开(公告)号:CN118080979A

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN202410235669.2

    申请日:2024-03-01

    Inventor: 杨洋 文健

    Abstract: 本发明公开了一种基于跨尺度结构的高清结构色图像的复刻方法,在复刻图像的过程中,给超声椭圆振动刀具施加椭圆振动,并给工件施加余弦振动,从而在工件表面切削加工出光栅微坑阵列。光栅微坑阵列由纳米光栅阵列和微坑阵列叠加而成,通过纳米光栅阵列和微坑阵列之间的复杂光学作用,能够呈现出更为丰富色彩。且在加工的过程中,能够根据原始图像的色调进行调控超声椭圆振动刀具的切削工艺参数,并根据原始图像的饱和度和亮度进行调控工件的振动轨迹,来调节纳米光栅阵列的光栅间距和微坑截面轮廓的深宽比,能够实现光栅微坑阵列特征结构对结构色的二维调控,使结构性表面呈现出色彩更加丰富的图像,并能更加准确地复刻所需的高清结构色图像。

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