-
公开(公告)号：CN111443358B
公开(公告)日：2022-06-03
申请号：CN202010172085.7
申请日：2020-03-12
Applicant: 哈尔滨工业大学(深圳)(哈尔滨工业大学深圳科技创新研究院)
Abstract: 本发明涉及成像技术领域，提供一种单点探测成像系统，该成像系统包括光源、第一聚光模块、光调制模块、第二聚光模块、光处理模块和计算机；光源照射至外部的目标物体表面，第一聚光模块用于对经过目标物体表面反射的反射光进行聚焦处理以形成投影于光调制模块的第一聚焦光，光调制模块用于对第一聚焦光进行稀疏变换并对第一聚焦光进行编码调制以形成调制光，第二聚光模块用于对调制光进行聚焦处理以形成投影于光处理模块表面的第二聚焦光，光处理模块用于根据第二聚焦光形成数字信号并将数字信号发送至计算机，计算机用于对数字信号进行处理以获得目标物体的复原图像。通过本发明的实施，能够解决现有技术中的成像技术存在成本高且复杂的问题。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111476758A
公开(公告)日：2020-07-31
申请号：CN202010171312.4
申请日：2020-03-12
Applicant: 哈尔滨工业大学(深圳)(哈尔滨工业大学深圳科技创新研究院)
Abstract: 本发明涉及显示屏技术领域，提供一种AMOLED显示屏的缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质，该AMOLED显示屏的缺陷检测方法包括：获取包含目标AMOLED显示屏的待测图像；提取待测图像中的目标区域图像；对目标区域图像进行预处理，得到残差图像；通过高斯差分算法计算残差图像的局部极大值点，并将局部极大值点作为种子点；根据种子点与预设阈值得到目标AMOLED显示屏的缺陷位置。通过本发明的实施，能够解决现有技术中的AMOLED显示屏存在检测过程较为复杂的问题。
-
公开(公告)号：CN111476722B
公开(公告)日：2023-04-28
申请号：CN202010171313.9
申请日：2020-03-12
Applicant: 哈尔滨工业大学(深圳)(哈尔滨工业大学深圳科技创新研究院)
Abstract: 本发明涉及图像处理技术领域，提供一种基于点扩散函数的图像复原方法、装置及其相关设备，该基于点扩散函数的图像复原方法包括：获取在暗场模式下由宽场显微镜连续采集的以纳米颗粒作为点光源的多张纳米颗粒图像；分别从多张纳米颗粒图像获取以中心纳米颗粒为中点的单个纳米颗粒图像；对多张单个纳米颗粒图像进行自相关处理，获得目标纳米颗粒图像；计算目标纳米颗粒图像对应的点扩散函数值；对点扩散函数值进行拟合得到点扩散函数，根据点扩散函数和非盲复原算法对目标图像进行复原。通过本发明的实施，能够解决现有技术中的图像复原方法存在复原图像时点扩散函数的计算过程较为复杂的问题。
-
公开(公告)号：CN111443358A
公开(公告)日：2020-07-24
申请号：CN202010172085.7
申请日：2020-03-12
Applicant: 哈尔滨工业大学(深圳)(哈尔滨工业大学深圳科技创新研究院)
Abstract: 本发明涉及成像技术领域，提供一种单点探测成像系统，该成像系统包括光源、第一聚光模块、光调制模块、第二聚光模块、光处理模块和计算机；光源照射至外部的目标物体表面，第一聚光模块用于对经过目标物体表面反射的反射光进行聚焦处理以形成投影于光调制模块的第一聚焦光，光调制模块用于对第一聚焦光进行稀疏变换并对第一聚焦光进行编码调制以形成调制光，第二聚光模块用于对调制光进行聚焦处理以形成投影于光处理模块表面的第二聚焦光，光处理模块用于根据第二聚焦光形成数字信号并将数字信号发送至计算机，计算机用于对数字信号进行处理以获得目标物体的复原图像。通过本发明的实施，能够解决现有技术中的成像技术存在成本高且复杂的问题。
-
公开(公告)号：CN111476758B
公开(公告)日：2023-04-25
申请号：CN202010171312.4
申请日：2020-03-12
Applicant: 哈尔滨工业大学(深圳)(哈尔滨工业大学深圳科技创新研究院)
Abstract: 本发明涉及显示屏技术领域，提供一种AMOLED显示屏的缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质，该AMOLED显示屏的缺陷检测方法包括：获取包含目标AMOLED显示屏的待测图像；提取待测图像中的目标区域图像；对目标区域图像进行预处理，得到残差图像；通过高斯差分算法计算残差图像的局部极大值点，并将局部极大值点作为种子点；根据种子点与预设阈值得到目标AMOLED显示屏的缺陷位置。通过本发明的实施，能够解决现有技术中的AMOLED显示屏存在检测过程较为复杂的问题。
-
公开(公告)号：CN111476722A
公开(公告)日：2020-07-31
申请号：CN202010171313.9
申请日：2020-03-12
Applicant: 哈尔滨工业大学(深圳)(哈尔滨工业大学深圳科技创新研究院)
Abstract: 本发明涉及图像处理技术领域，提供一种基于点扩散函数的图像复原方法、装置及其相关设备，该基于点扩散函数的图像复原方法包括：获取在暗场模式下由宽场显微镜连续采集的以纳米颗粒作为点光源的多张纳米颗粒图像；分别从多张纳米颗粒图像获取以中心纳米颗粒为中点的单个纳米颗粒图像；对多张单个纳米颗粒图像进行自相关处理，获得目标纳米颗粒图像；计算目标纳米颗粒图像对应的点扩散函数值；对点扩散函数值进行拟合得到点扩散函数，根据点扩散函数和非盲复原算法对目标图像进行复原。通过本发明的实施，能够解决现有技术中的图像复原方法存在复原图像时点扩散函数的计算过程较为复杂的问题。
-
-
-
-
-
Search Results
6
records
(took 0.035 seconds)
