一种利用极图分析的滑移线快速精确标定方法

    公开(公告)号:CN113203763A

    公开(公告)日:2021-08-03

    申请号:CN202110626731.7

    申请日:2021-06-04

    Abstract: 一种利用极图分析的滑移线快速精确标定方法,本发明涉及一种利用极图分析的滑移线快速精确标定方法。本发明是为了解决现有表面滑移线标定困难且速度慢的问题。方法:一、前期准备:对试样进行抛光,然后进行拉伸变形,出现滑移线;将待观察试样固定于样品台上,进行二次电子和电子背散射衍射的分析;二、实验数据处理:建立滑移线分析模型;三、滑移线分析:利用模型将滑移线上选定点处的金属各个滑移面对应在极图中的位置标定出来,与中心连线,垂线的方向即为待定滑移线方向,对比步骤二中在二次电子图像中标定的实际滑移线方向,方向完全吻合的滑移面即为此处实际运动的滑移系。本发明用于快速准确标定金属表面滑移线对应的滑移系。

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