带有万向均载机构的调整垫铁

    公开(公告)号:CN1632364A

    公开(公告)日:2005-06-29

    申请号:CN200510009628.9

    申请日:2005-01-18

    Abstract: 一种“带有万向均载机构的调整垫铁”,由上斜铁、中间双面斜铁、下斜铁、均载机构和调整螺杆组成,均载机构有外环、内环两部分。调整螺杆带动中间双面斜铁移动,通过万向均载机构传递力矩,带动上下斜铁产生相对于中间斜铁的滑动,来实现调整方向上的高度调节。调倾过程中,能保证垂直定位螺母与上、下斜铁之间同时接触,使螺杆只承受垂直方向的推、拉力,消除其弯距偏载,极大的提高了调整系统的承载能力和可靠性,是值得推广的机床设备安装水平调整机构。

    分立式人字槽动静压气体复合圆柱轴承

    公开(公告)号:CN1270109C

    公开(公告)日:2006-08-16

    申请号:CN200510009636.3

    申请日:2005-01-18

    Abstract: 本发明“分立式人字槽动静压气体复合圆柱轴承”涉及一种高速、高刚度、大载荷超精密螺旋槽动静压气体复合圆柱轴承,在圆柱轴承工作面上,静压气浮供气点分布圆两侧分别开有人字形动压沟槽,在不增加气浮轴承耗气量的情况下,轴承承载能力比传统静压气浮轴承提高30%以上,轴承刚度比传统静压气浮轴承提高15%以上。

    分立式人字槽动静压气体复合圆柱轴承

    公开(公告)号:CN1632335A

    公开(公告)日:2005-06-29

    申请号:CN200510009636.3

    申请日:2005-01-18

    Abstract: 本发明“分立式人字槽动静压气体复合圆柱轴承”涉及一种高速、高刚度、大载荷超精密螺旋槽动静压气体复合圆柱轴承,在圆柱轴承工作面上,静压气浮供气点分布圆两侧分别开有人字形动压沟槽,在不增加气浮轴承耗气量的情况下,轴承承载能力比传统静压气浮轴承提高30%以上,轴承刚度比传统静压气浮轴承提高15%以上。

    三差动共焦显微三维超分辨成像方法

    公开(公告)号:CN1310023C

    公开(公告)日:2007-04-11

    申请号:CN200410090774.4

    申请日:2004-11-10

    Abstract: 本发明属于光学显微成像及微观测量技术领域,涉及一种具有高性噪比和三维超分辨成像能力的三差动共焦显微三维超分辨成像方法。该方法将提高轴向分辨力的三差动共焦扫描方法和提高横向分辨力的超分辨光瞳滤波共焦扫描方法相融合,构成光瞳滤波式三维超分辨差动共焦成像方法。横向分辨力的提高可通过特定设计的光瞳滤波器来对三差动共焦显微镜的爱里斑主辦进行锐化来达到,轴向分辨力的提高可通过三差动共焦光路布置及差动探测来达到,这样,即可实现共焦显微镜的三维超分辨成像和高性噪比显微成像检测。该方法可用于测量样品的三维表面形貌、三维微细结构、微台阶、微沟槽、集成电路线宽等。

    图像复原及光瞳滤波式横向超分辨共焦显微成像方法与装置

    公开(公告)号:CN1837890A

    公开(公告)日:2006-09-27

    申请号:CN200610066076.X

    申请日:2006-03-29

    Abstract: 本发明属于显微成像及微观精密测量技术领域,涉及一种图像复原及光瞳滤波式横向超分辨共焦显微成像方法与装置,包括光源(1),依次放在光源发射端的准直扩束器(2)、光瞳滤波器(3),偏振分光镜(4),放置在偏振分光镜(4)反射光路上的1/4波片(5)、显微物镜(6),以及在偏振分光镜(4)透射光路上的聚光透镜(7)和位于聚光透镜(7)焦点位置的针孔(8),贴近针孔后面的CCD探测器(9)。本发明融合了光瞳滤波超分辨技术以及图像超分辨复原技术,可显著改善共焦显微系统的横向分辨力。本发明可广泛用于对微电子、材料、工业精密检测、生物医学等领域中进行高分辨力显微成像检测。

    具有高空间分辨力的差动共焦扫描检测方法

    公开(公告)号:CN1209599C

    公开(公告)日:2005-07-06

    申请号:CN200410006359.6

    申请日:2004-02-27

    Abstract: 本发明属于表面微细结构测量技术领域,涉及一种具有高空间分辨力的差动共焦扫描检测方法。该方法采用差动共焦显微双接受光路布置和双探测器相减形成差动共焦信号,对被测工件进行测量,通过光学超分辨共焦显微检测方法提高横向分辨力,通过差动共焦显微探测方法提高纵向分辨力,从而达到差动共焦扫描检测的高空间分辨力检测。该方法可以满足高空间分辨力、高精度和较大测量范围的要求,特别适用于表面三维微细结构、微台阶、微沟槽、线宽以及表面形貌的测量等。

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