一种集光器用集光孔阵列板

    公开(公告)号:CN110207405B

    公开(公告)日:2021-06-22

    申请号:CN201910390715.5

    申请日:2019-05-10

    Abstract: 本发明公开了一种集光器用集光孔阵列板,包括:集光器;集光器上具有透镜阵列板、导光槽和侧向集光器,自然光照射面为平面,平面的相对面均匀排布透镜;在透镜阵列板和导光槽之间设置有集光孔阵列板,集光孔阵列板包括:主体板、集光孔、多面反射体和反射膜;集光孔开设在主体板上,且集光孔与透镜相匹配;多面反射体固定于主体板远离透镜的一侧,且多面反射体设置有主反射面,集光孔内的自然光通过主反射面进行反射,通过主反射面的自然光照射到侧向集光器;主体板远离透镜的一侧镀有反射膜;多面反射体除与主体板接触面均镀有反射膜。本发明提供了一种集光器用集光孔阵列板,不仅具有薄型化的优点,而且能够大大增加太阳光的收集效能。

    基于结构光照明的面形测量装置和方法

    公开(公告)号:CN108007382B

    公开(公告)日:2019-06-11

    申请号:CN201711238219.5

    申请日:2017-11-30

    Abstract: 基于结构光照明的面形测量装置和方法,属于光学显微成像与测量技术领域。本发明专利的技术特点是:装置包括:结构光照明模块、轴向扫描模块和探测模块。本发明在常规结构光照明显微系统中增加由偏振分光镜、低孔径物镜、管镜和平面反射镜等组成的轴向扫描装置,实现结构光照明条纹在被观测样品空间的高速轴向移动,并且利用窗口傅里叶变换对不同z向位置条纹投影下拍摄的图片进行处理,计算每个子区域图像在投影条纹频率处的相关系数,获取每个横向位置清晰度轴向响应曲线,曲线的峰值位置即为样品该横向位置的相对高度,最终获取样品表面面形。该发明具有装调简单,轴向扫描速度快,测量结果受样品表面反射率差异影响小和信噪比高的优点。

    一种用于改进型α-β扫描方法的延迟相位标定方法

    公开(公告)号:CN108592790A

    公开(公告)日:2018-09-28

    申请号:CN201810332847.8

    申请日:2018-04-13

    Abstract: 一种用于改进型α-β扫描方法的延迟相位标定方法,其步骤包括:使用α-β扫描方法完成对正交网格光栅样品扫描成像,即使用频率为f,初始相位分别为0和π/2正弦信号控制检流式振镜系统,偏转激光光束扫描;然后根据使用目标轨迹重构的扫描图像与目标图像相对位置关系确认扫描图像旋转角度θ,角度值θ转换弧度值φ,φ即为在频率为f时延迟相位大小;重复步骤上述测量过程获得不同频率fk下延迟相位大小φk;最后根据多组测量结果,拟合f-φ函数关系,即为扫描频率与相位延迟函数关系,完成用于改进型α-β扫描方法的延迟相位标定。本发明提供的延迟相位标定方法,精准确定相位延迟大小,提前校正由于振镜系统惯性导致的相位延迟。

    基于结构光照明的面形测量装置和方法

    公开(公告)号:CN108007382A

    公开(公告)日:2018-05-08

    申请号:CN201711238219.5

    申请日:2017-11-30

    CPC classification number: G01B11/2433 G01B11/254

    Abstract: 基于结构光照明的面形测量装置和方法,属于光学显微成像与测量技术领域。本发明的技术特点是:装置包括:结构光照明模块、轴向扫描模块和探测模块。本发明在常规结构光照明显微系统中增加由偏振分光镜、低孔径物镜、管镜和平面反射镜等组成的轴向扫描装置,实现结构光照明条纹在被观测样品空间的高速轴向移动,并且利用窗口傅里叶变换对不同z向位置条纹投影下拍摄的图片进行处理,计算每个子区域图像在投影条纹频率处的相关系数,获取每个横向位置清晰度轴向响应曲线,曲线的峰值位置即为样品该横向位置的相对高度,最终获取样品表面面形。该发明具有装调简单,轴向扫描速度快,测量结果受样品表面反射率差异影响小和信噪比高的优点。

    一种集光器用集光孔阵列板

    公开(公告)号:CN110207405A

    公开(公告)日:2019-09-06

    申请号:CN201910390715.5

    申请日:2019-05-10

    Abstract: 本发明公开了一种集光器用集光孔阵列板,包括:集光器;集光器上具有透镜阵列板、导光槽和侧向集光器,自然光照射面为平面,平面的相对面均匀排布透镜;在透镜阵列板和导光槽之间设置有集光孔阵列板,集光孔阵列板包括:主体板、集光孔、多面反射体和反射膜;集光孔开设在主体板上,且集光孔与透镜相匹配;多面反射体固定于主体板远离透镜的一侧,且多面反射体设置有主反射面,集光孔内的自然光通过主反射面进行反射,通过主反射面的自然光照射到侧向集光器;主体板远离透镜的一侧镀有反射膜;多面反射体除与主体板接触面均镀有反射膜。本发明提供了一种集光器用集光孔阵列板,不仅具有薄型化的优点,而且能够大大增加太阳光的收集效能。

    基于结构光照明的面形测量装置和方法

    公开(公告)号:CN108020174B

    公开(公告)日:2019-06-11

    申请号:CN201711242382.9

    申请日:2017-11-30

    Abstract: 基于结构光照明的面形测量装置和方法,属于光学显微成像与测量技术领域。本发明专利的技术特点是:装置包括:结构光照明模块、轴向扫描模块和探测模块。本发明在常规结构光照明显微系统中增加由偏振分光镜、低孔径物镜、管镜和平面反射镜等组成的轴向扫描装置,实现结构光照明条纹在被观测样品空间的高速轴向移动,并且利用窗口傅里叶变换对不同z向位置条纹投影下拍摄的图片进行处理,计算每个子区域图像在投影条纹频率处的相关系数,获取每个横向位置清晰度轴向响应曲线,曲线的峰值位置即为样品该横向位置的相对高度,最终获取样品表面面形。该发明具有装调简单,轴向扫描速度快,测量结果受样品表面反射率差异影响小和信噪比高的优点。

    共焦显微镜模式像差矫正方法

    公开(公告)号:CN108088653A

    公开(公告)日:2018-05-29

    申请号:CN201711242335.4

    申请日:2017-11-30

    CPC classification number: G01M11/00 G01N21/01

    Abstract: 共焦显微镜模式像差矫正方法,属于自适应光学和共焦显微成像技术领域,本发明为了解决现有光学系统的装配误差和光学元件的面形偏差会造成像差,导致焦斑歪曲和分辨率降低的问题。该方法依次加载不同幅值第4-11阶Zernike项偏置像差,计算相应图像灰度方差函数值,以此利用质心法计算相应像差系数,比较得到像差系数小于0.7rad清零,其余项预先矫正,再重新线性计算像差系数,最后利用两次系数之和进行像差矫正。本发明共焦显微镜模式像差矫正方法,通过空间光调制器反向补偿由光学系统的装配误差与光学元件的面形偏差引起的波前畸变,有效克服共焦显微系统的像差影响,提升其成像质量与分辨率。

    共焦显微镜模式像差矫正装置

    公开(公告)号:CN107991235A

    公开(公告)日:2018-05-04

    申请号:CN201711238228.4

    申请日:2017-11-30

    Abstract: 共焦显微镜模式像差矫正装置,属于自适应光学和共焦显微成像技术领域,本发明为了解决现有现有像差矫正装置过于复杂、操作不便且样品预处理步骤复杂的问题。激光器发出的激光经双面45°反光镜的一侧反光镜面反射后途经分束镜到达半波片,经半波片调制后射入至空间光调制器,再经空间光调制器调制后射回至分束镜,再经分束镜反射至反射镜,然后经光阑滤除高阶衍射杂光后射到双面45°反光镜的另一侧反光镜面,经双面45°反光镜再次反射后经过偏振分束镜射至XY扫描振镜上。本发明的共焦显微镜模式像差矫正装置可在不增加样品操作以及成像装置最简化的情况下达到图像幅值增加百分之44和成像质量提升百分之17的效果。

    变焦共聚焦光镊显微成像装置和方法

    公开(公告)号:CN108020505B

    公开(公告)日:2020-07-03

    申请号:CN201711240871.0

    申请日:2017-11-30

    Abstract: 变焦共聚焦光镊显微成像装置和方法,属于光学显微成像与光学操控技术领域。本发明专利的技术特点是:装置包括:共聚焦照明模块、共聚焦轴向调焦模块、共聚焦扫描模块、共聚焦探测模块和光镊聚焦模块。本发明在常规光镊显微系统中增加由偏振分光镜、四分之一波片、低孔径物镜、管镜和平面反射镜组成的轴向调焦装置,实现共光路光镊共聚焦显微镜中共聚焦焦面的轴向移动,从而抓取悬浮样品实现轴向移动,完成共聚焦三维层析扫描成像。该发明具有装调简单,变焦与轴向层析速度快,观测成本低的优点。

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