公开(公告)号：CN106373122A

公开(公告)日：2017-02-01

申请号：CN201610835435.7

申请日：2016-09-20

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 刘国栋 ,  陈凤东 ,  刘炳国 ,  黄卓

IPC: G06T7/00 ,  G06T3/00 ,  G06K9/46 ,  G06K9/40

CPC classification number: G06T3/0075 ,  G06K9/40 ,  G06K9/4604 ,  G06K9/4661 ,  G06T2207/10016 ,  G06T2207/20076

Abstract: 基于连接向量特征匹配的暗场图像配准方法，属于光学元件检测技术领域。解决了现有暗场图像配准方法存在对同一个光学元件在多次在线检测中得到多幅暗场图像之间的配准，配准不适用且准确性差的问题。本发明首先对基准图像及待配准图像分别进行图像预处理，尽可能消除干扰，接着求取损伤点的轮廓，并求其外接圆圆心坐标，作为损伤点的位置值。然后构建损伤点连接向量并计算连接向量特征，之后使用借鉴BBF算法实现特征精确匹配，最后利用匹配后的特征点对进行仿射变换参数计算，完成配准。本发明适用于光学元件检测的图像匹配。