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公开(公告)号：CN107139020B
公开(公告)日：2019-06-21
申请号：CN201710308224.2
申请日：2017-05-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明一种基于靶标轨迹跟踪的主轴径向回转误差测量装置属于精密仪器制造及测量技术领域；包括图像采集器件，标准器，用于夹持标准器的装夹装置，待测主轴，基座，龙门支架，X向位移导轨，Y向位移导轨和Z向位移导轨；X向位移导轨通过龙门支架固定在基座上，Y向位移导轨沿X向位移导轨所在方向移动，Z向位移导轨沿Y向位移导轨所在方向移动，图像采集器件沿Z向位移导轨所在方向移动，标准器通过装夹装置安装在待测主轴的回转端面上；标准器为顶端开有靶标、内部能够发光的桶状结构；靶标为偏心孔；本发明不仅不需要高采样频率电容传感器，降低了设备成本，而且能够实现高转速主轴径向回转误差的高精度测量。
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公开(公告)号：CN107139020A
公开(公告)日：2017-09-08
申请号：CN201710308224.2
申请日：2017-05-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: B23Q17/00 , B23Q17/24 , B23Q17/2452
Abstract: 本发明一种基于靶标轨迹跟踪的主轴径向回转误差测量装置属于精密仪器制造及测量技术领域；包括图像采集器件，标准器，用于夹持标准器的装夹装置，待测主轴，基座，龙门支架，X向位移导轨，Y向位移导轨和Z向位移导轨；X向位移导轨通过龙门支架固定在基座上，Y向位移导轨沿X向位移导轨所在方向移动，Z向位移导轨沿Y向位移导轨所在方向移动，图像采集器件沿Z向位移导轨所在方向移动，标准器通过装夹装置安装在待测主轴的回转端面上；标准器为顶端开有靶标、内部能够发光的桶状结构；靶标为偏心孔；本发明不仅不需要高采样频率电容传感器，降低了设备成本，而且能够实现高转速主轴径向回转误差的高精度测量。
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公开(公告)号：CN108168461B
公开(公告)日：2019-10-25
申请号：CN201810027452.7
申请日：2018-01-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明一种基于衍射光栅的主轴径向回转误差测量装置与方法属于精密仪器制造及测量技术领域；该装置包括待测主轴，光栅，装夹装置，激光器，凸透镜，折光元件，光电转换器，信号处理电路和上位机；该方法首先确定等分角半径位置，再调整激光器、凸透镜与折光元件的位置，调整光电转换器与凸透镜之间距离，将获得的干涉信号转换为电学信息，对接收到的信号进行辨向计数及矢量合成并解调出光栅的位移信息，最后评定待测主轴的径向回转误差；本发明利用衍射光栅将主轴的径向回转误差转化为衍射干涉光斑的位移，利用光电转换器获取光斑的位移信息，从而规避了高采样频率的电容传感器难以获得的困境，实现了高速主轴径向回转误差的精密测量。
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公开(公告)号：CN107036553B
公开(公告)日：2019-05-21
申请号：CN201710308222.3
申请日：2017-05-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明一种用于测量主轴径向回转误差的标准器属于精密仪器制造及测量技术领域；该标准器包括设置有靶标的靶标盘，安装盘，LED，PCB板，开关，装有电池的电池座和紧固螺栓；所述靶标盘安装在安装盘上部，所述LED焊接在PCB板上表面，所述开关和电池座焊接在PCB板下表面，所述PCB板通过紧固螺栓安装在安装盘下部；所述靶标为通孔，设置在靶标盘中心外的位置；本发明标准器与待测主轴同轴设置，形成一套全新的主轴径向回转误差测量装置与方法，再结合数字图像处理技术，不仅不需要高采样频率电容传感器，降低了设备成本，而且能够实现高转速主轴径向回转误差的高精度测量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107036553A
公开(公告)日：2017-08-11
申请号：CN201710308222.3
申请日：2017-05-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G01B11/2408
Abstract: 本发明一种用于测量主轴径向回转误差的标准器属于精密仪器制造及测量技术领域；该标准器包括设置有靶标的靶标盘，安装盘，LED，PCB板，开关，装有电池的电池座和紧固螺栓；所述靶标盘安装在安装盘上部，所述LED焊接在PCB板上表面，所述开关和电池座焊接在PCB板下表面，所述PCB板通过紧固螺栓安装在安装盘下部；所述靶标为通孔，设置在靶标盘中心外的位置；本发明标准器与待测主轴同轴设置，形成一套全新的主轴径向回转误差测量装置与方法，再结合数字图像处理技术，不仅不需要高采样频率电容传感器，降低了设备成本，而且能够实现高转速主轴径向回转误差的高精度测量。
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公开(公告)号：CN107101593B
公开(公告)日：2019-11-01
申请号：CN201710307950.2
申请日：2017-05-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明一种基于靶标轨迹跟踪的主轴径向回转误差测量方法属于精密仪器制造及测量技术领域；该方法依次执行以下步骤：步骤a、点亮标准器；步骤b、调整X向位移导轨，Y向位移导轨和Z向位移导轨，使得图像采集器件能够对靶标回转圆周完整成像；步骤c、控制待测主轴在额定转速下转动；步骤d、在图像采集器件的曝光时间T1、待测主轴的转动周期T2之间满足T1＝T2或T1＝kT2的关系时，图像采集器件对标准器成像，获得靶标轨迹图像；步骤e、对靶标轨迹图像进行预处理和靶标轨迹提取；步骤f、评定靶标轨迹的圆度误差；本发明不仅不需要高采样频率电容传感器，降低了测量成本，而且能够实现高转速主轴径向回转误差的高精度测量。
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公开(公告)号：CN108168461A
公开(公告)日：2018-06-15
申请号：CN201810027452.7
申请日：2018-01-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明一种基于衍射光栅的主轴径向回转误差测量装置与方法属于精密仪器制造及测量技术领域；该装置包括待测主轴，光栅，装夹装置，激光器，凸透镜，折光元件，光电转换器，信号处理电路和上位机；该方法首先确定等分角半径位置，再调整激光器、凸透镜与折光元件的位置，调整光电转换器与凸透镜之间距离，将获得的干涉信号转换为电学信息，对接收到的信号进行辨向计数及矢量合成并解调出光栅的位移信息，最后评定待测主轴的径向回转误差；本发明利用衍射光栅将主轴的径向回转误差转化为衍射干涉光斑的位移，利用光电转换器获取光斑的位移信息，从而规避了高采样频率的电容传感器难以获得的困境，实现了高速主轴径向回转误差的精密测量。
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公开(公告)号：CN107101593A
公开(公告)日：2017-08-29
申请号：CN201710307950.2
申请日：2017-05-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明一种基于靶标轨迹跟踪的主轴径向回转误差测量方法属于精密仪器制造及测量技术领域；该方法依次执行以下步骤：步骤a、点亮标准器；步骤b、调整X向位移导轨，Y向位移导轨和Z向位移导轨，使得图像采集器件能够对靶标回转圆周完整成像；步骤c、控制待测主轴在额定转速下转动；步骤d、在图像采集器件的曝光时间T1、待测主轴的转动周期T2之间满足T1＝T2或T1＝kT2的关系时，图像采集器件对标准器成像，获得靶标轨迹图像；步骤e、对靶标轨迹图像进行预处理和靶标轨迹提取；步骤f、评定靶标轨迹的圆度误差；本发明不仅不需要高采样频率电容传感器，降低了测量成本，而且能够实现高转速主轴径向回转误差的高精度测量。
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公开(公告)号：CN211234298U
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：CN202020323889.8
申请日：2020-03-16
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于合作目标光栅的主轴径向回转误差测量装置，属于精密仪器制造及测量技术领域；在该装置中，光束整形器件固定在被测主轴的回转端面上，环形标尺光栅固定在光束整形器件上方，斜纹指示光栅位于环形标尺光栅上方，光电转换装置固定在斜纹指示光栅上方，电子信号处理部件位于光电转换部件上方，光源位于光束整形器件工作面的径向，准直扩束系统位于光源与光束整形器件之间；光束整形器件与被测主轴轴线重合，环形标尺光栅与光束整形器件轴线重合，斜纹指示光栅与环形标尺光栅轴线重合，光电转换部件与斜纹指示光栅轴线重合；通过将合作目标光栅与光电转换器件组合，大大减少了装置制作成本，提高测量精度。
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