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公开(公告)号：CN102645323B
公开(公告)日：2014-09-10
申请号：CN201210149332.7
申请日：2012-05-15
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G02B7/02
Abstract: 用于透镜组点源透射比测试的五自由度定位装置，它涉及一种定位装置，具体涉及一种用于透镜组点源透射比测试的五自由度定位装置，以解决现有定位装置不能满足不同长度、不同直径的透镜组的定位，以及不能实现透镜组的角度调节的问题，它包括两个第一支撑臂、两个第二支撑臂，底座、转台，两个第一支撑杆，两个第二支撑杆，两个第一立式滑块，两个第二立式滑块，两个第三连接件和两个第四连接件，每个第一支撑臂由制成一体的第一水平臂和第一垂直臂组成，每个第一滑槽内装有一个第一立式滑块，两个第一支撑杆和两个第二支撑杆用于支撑透镜组，底座安装在转台的上端面上且二者可拆卸连接。本发明用于透镜组的杂散光测试。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102809550A
公开(公告)日：2012-12-05
申请号：CN201210305239.0
申请日：2012-08-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/59
Abstract: 连续光谱双向透射分布函数测量装置，涉及一种双向透射分布函数测量装置。为了解决目前获得双向透射分布函数的装置测量精度低的问题。它包括照明系统、探测系统、机械转角系统、控制系统和数据处理系统；照明系统的照明光纤探头固定安装在机械转角系统的照明光纤探头的轨道上，照明系统的光源信号输出端与数据处理系统的光源信号输入端连接，探测系统的探测光纤探头固定安装在机械转角系统的探测光纤探头的轨道上，探测系统的测量信号输出端与数据处理系统的测量信号输入端连接，控制系统的旋转控制信号输出端与探测系统的旋转制信号输入端连接。用于测量连续光谱双向透射分布函数。
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公开(公告)号：CN102175650A
公开(公告)日：2011-09-07
申请号：CN201110033559.0
申请日：2011-01-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 连续光谱双向反射分布函数测量装置，它属于光谱学、计算机图形学和机器视觉领域，它解决了现有装置不能够在可见光波段内测量连续光谱BRDF的问题。样品环的中心点为旋转中心，并安在样品水平和竖直方向旋转支架上，所述支架用于带动样品环以旋转中心为中心点在水平面和垂直于水平面的竖直面上旋转；光纤探头安探测器位置调整支架上，并光路指向旋转中心，所述支架用于带动光纤探头以旋转中心为中心点在水平面上旋转，带动光纤探头做运动轨迹穿过旋转中心的一维直线运动，光纤探头信号输出端连光谱仪输入端；旋转控制器用于所述的两个支架的旋转；PC机连光谱仪和旋转控制器；光源组件光束照射在样品环上。应用于测量在可见光波段内的连续光谱BRDF。
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公开(公告)号：CN102175431A
公开(公告)日：2011-09-07
申请号：CN201110031444.8
申请日：2011-01-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 大动态范围点源杂光透射系数测量装置，它属于光电测试领域，它得到现有光学系统中杂光透射系数。本发明的水平转台上安装有待测光学系统，所述的水平转台用于控制待测光学系统在水平面内旋转；光路组件包括孔径光阑、折轴反射镜和大口径平行光管；太阳模拟器发出的光线经孔径光阑投射在折轴反射镜上，经折轴反射镜反射后投射到大口径平行光管上，大口径平行光管的出射光束为大口径平行光，所述的大口径平行光投射在待测光学系统的入瞳口径上；探测器分为前部探测器和后部探测器，所述前部探测器和后部探测器分别安装在待测光学系统的受光面上和背光面上，探测器用来探测待测光学系统前后辐射照度。应用于空间光学系统中的装置。
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公开(公告)号：CN102749720A
公开(公告)日：2012-10-24
申请号：CN201210257446.3
申请日：2012-07-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于棱镜和带通滤光片的消偏振分光系统，涉及一种消偏振分光系统，它为了解决现有介质分光膜系在光倾斜入射的情况,引起强烈的偏振效应,使得目标图像质量下降的问题，它由一号分光棱镜、二号分光棱镜、一号带通滤光片、二号带通滤光片和三号带通滤光片组成，正方体的一号分光棱镜和二号分光棱镜依次串接在光路中，所述一号分光棱镜为镀金属膜的中性分光镜，二号分光棱镜为由透光的白区和反光的黑区组成的分波面分光镜，一号带通滤光片设置在一号分光棱镜的反射光的光路中，二号带通滤光片设置在二号分光棱镜的反射光的光路中，三号带通滤光片设置在二号分光棱镜的透射光的光路中。适用于消偏振分光系统领域。
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公开(公告)号：CN102645323A
公开(公告)日：2012-08-22
申请号：CN201210149332.7
申请日：2012-05-15
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 用于透镜组点源透射比测试的五自由度定位装置，它涉及一种定位装置，具体涉及一种用于透镜组点源透射比测试的五自由度定位装置，以解决现有定位装置不能满足不同长度、不同直径的透镜组的定位，以及不能实现透镜组的角度调节的问题，它包括两个第一支撑臂、两个第二支撑臂，底座、转台，两个第一支撑杆，两个第二支撑杆，两个第一立式滑块，两个第二立式滑块，两个第三连接件和两个第四连接件，每个第一支撑臂由制成一体的第一水平臂和第一垂直臂组成，每个第一滑槽内装有一个第一立式滑块，两个第一支撑杆和两个第二支撑杆用于支撑透镜组，底座安装在转台的上端面上且二者可拆卸连接。本发明用于透镜组的杂散光测试。
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